EXAFS研究负载型Ni／SiO2的区域结构

实验结果表明改进的实验室ＥＸＡＦＳ谱仪测试Ｎｉ箔的Ｋ吸收得到的ＥＸＡＦＳ谱与同步辐射上测量Ｎｉ箔得到的ＥＸＡＦＳ谱相近，利用实验室ＥＸＡＦＳ方法也可开展较好的结果测量研究，在ＳｉＯ２粉末载体上Ｎｉ负载量变化的ＥＸＡＦＳ结果表明，随着Ｎｉ负载量的降低，Ｎｉ的径向结构函数主配位峰的位置Ｒ＝０．２２０ｎｍ保持不变，但振幅强度逐渐降低。负载量从Ｎｉ箔到２．５％Ｎｉ／ＳｉＯ２，无序度因子σ由０．００６８ｎｍ     

同步辐射X射线荧光分析技术在石油勘探中的应用

简述同步辐射Ｘ射线荧光分析（ＳＲＸＲＦＡ）技术在石油勘探领域中的应用前景。利用北京正负电子对撞机国家实验室同步辐射装置（ＢＳＲＦ）提供的实验条件，研制配套装置，测试了我国油气勘探区一批石油地质样品（包括原油、生油岩和油田水）中微量元素的含量和分布特征，并将结果应用于石油勘探。     

MSC理论研究固体CS2的实验谱

用近边Ｘ射线吸收精细结构（ＮＥＸＡＦＳ）的多重用射集团（ＭＳＣ）方法对固体ＣＳ２的硫Ｋ－边ＮＥＸＡＦＳ实验谱进行了详细的研究，结果表明：１．确认Ｋ－边ＮＥＸＡＦＳ实验谱的主体结构是双σ键和π２．固体ＣＳ２中间时存在的硫的单键和双键和对应的两种吸收谱；３．π几乎全由双键所贡献，而双σ则分别由单键和双键所贡献；４．ＮＥＸＡＦＳ实验谱是两种吸收谱的叠加。     

遗传算法在EXAFS谱图解析中的应用

扩展Ｘ射线吸收精细结构（ＥＸＡＦＳ）谱是研究物质原子近邻结构和表面结构的有力工具。ＥＸＡＦＳ谱的解析通常采用标准样品比较法或最小二乘曲线拟合方法。但前者对标样的要求很高，而后者则参数初值难以确定，且结果有时不唯一。本文提出一种ＥＸＡＦＳ曲线拟合的新方法一遗传算法，并对单配位层Ｃｕ样品的ＥＸＡＦＳ谱图进行了解析，取得满意的结果。     

三角形弯晶单色器的分光及聚焦特性研究

北京同步辐射装置（ＢＳＲＦ）的４Ｗ１Ｃ光束线用斜切角为１２．１６°的三角形Ｓｉ（１１１）、Ｓｉ（２２０）和Ｓｉ（４２２）晶体在衍射角为２３．６５°时选择０．２５２ｎｍ、０．１５４ｎｍ和０．０８９ｎｍ波长的单色Ｘ光．三角形晶体压弯成柱面，可实现单色光水平方向的聚焦，为漫散射实验站提供聚焦的单色Ｘ光．解析计算和ＳＨＡＤＯＷ软件包进行追踪的结果与实验测试结果符合得很好．     

FAAS法测定饮料中钙的质量控制方法

本文在应用ＦＡＡＳ法测定饮料中钙的实验过程中，采用Ｘ－Ｓ控制图和Ｐ－ＳＰ控制图，对检测过程全面地进行了质量控制。同时采用了平行双样相对偏差表，监控实验过程的精密度，收到了令人满意的结果。较好的解决了用ＦＡＡＳ法测定常量元素钙的质量控制方法，测定值与文献报导值相符。     

X射线（n,—n）双晶衍射抑制高次谐波实验研究

对将用于同步辐射ＥＸＡＦＳ 实验站双晶单色器的晶体进行了双晶衍射失谐抑制高次谐波的实验．结果表明，对Si(111）晶体，当双晶衍射失谐到基波强度只有原来的一半时，高次谐波均消失．本文讨论了Si（２２２）衍射不完全消光的原因．对Si（２２０）晶体衍射的情况也进行了简要的讨论．     

XRD灵敏度与在同步辐射源上的绝对刻度

在ＢＥＰＣ同步辐射的３Ｂ１束线上，利用多层镜分光，获得生较好，强度较高的软Ｘ光光源。采用美国进口的ＡＸＵＶ－１００Ｓｉ光二极管作为二级标准，对ＸＲＤ探测器和滤片进行绝对刻度，获得了各种阴极ＸＲＤ的灵敏度，其结果与ＬＬＮＬ的实验结果吻合，并对实验结果作了分析。     

一种可用于测量薄膜材料的实验室EXAFS方法

本文介绍了利用从薄膜衬底反射的Ｘ射线，在常规实验室条件下实现了对薄膜材料的ＥＸＡＦＳ测量．我们用该方法在 Ｄ／ｍａｘ－ｒＢ１２ｋＷ转靶Ｘ射线衍射仪上得到的纯 Ｃｕ薄膜的 ＥＸＡＦＳ测量结果和常规透射法的测量结果一致．这表明该方法是可靠的．     

LOW ENERGY TRIPLE DIFFERENTIAL CROSS SECTIONS FOR ELECTRON IMPACT IONIZATION OF HYDROGEN

ＬＯＷＥＮＥＲＧＹＴＲＩＰＬＥＤＩＦＦＥＲＥＮＴＩＡＬＣＲＯＳＳＳＥＣＴＩＯＮＳＦＯＲＥＬＥＣＴＲＯＮＩＭＰＡＣＴＩＯＮＩＺＡＴＩＯＮＯＦＨＹＤＲＯＧＥＮＣｈｅｎＺｈａｎｇｊｉｎａ，ｂＸｕＫｅｚｕｎｂＸｕＦｕｘｉｎａａＤｅｐａｒｔｍｅｎｔｏｆＰｈｙ...     

深度同步辐射X射线光刻技术

深度同步辐射Ｘ射线光刻技术深度同步辐射Ｘ射线光刻是ＬＩＧＡ技术的关键技术之一，而在８０年代中期，德国Ｗ。Ｅｈｒｆｅｌｄ教授［１］及同事创造的ＬＩＧＡ技术被认为是进行三维超微细加工最有前途的加工方法。ＬＩＧＡ技术是深度Ｘ射线刻蚀、电铸成型和塑料铸模等技...     

在硅酸盐矿物,玻璃和熔体中Si和Al的配位与局部结构：K—边 …

本文采用步辐射的ＳｉＫ－边Ｘ－射线吸收近边结构（ＸＡＮＥＳ）谱研究了Ｓｉ在ＳｉＯ２－Ｐ２Ｏ５和Ｎａ２Ｏ－ＳｉＯ２－Ｐ２Ｏ５的低压磷硅酸盐玻璃中结构与配位,以及Ｓｉ的配位几何随玻璃中Ｐ２Ｏ５含量而变化：同步辐射的Ａｌ Ｋ－边ＸＡＮＥＳ谱研究了Ａｌ在铝硅酸盐成分为ＮａＡｌＳｉ２Ｏ６－ＮａＡｌＳｉ３Ｏ８的玻璃和熔体中的配位和局部结构,并提供了直接的实验证据该成分的玻璃体系中由于压力的变化所诱导Ａｌ配位的     

X射线荧光光谱分析的现状和进展

本文综述了常规Ｘ射线荧光（ＸＲＦ）、同步辐射ＸＲＦ，全反射ＸＲＦ和其他ＸＲＦ等四个方面的ＸＲＦ光谱分析的现状和进展。     

THE EXCESS HEAT EXPERIMENTS ON COLD FUSION IN TITANIUM LATTICE

ＴＨＥ　ＥＸＣＥＳＳ　ＨＥＡＴ　ＥＸＰＥＲＩＭＥＮＴＳ　ＯＮ　ＣＯＬＤ　ＦＵＳＩＯＮ　ＩＮ　ＴＩＴＡＮＩＵＭ　ＬＡＴＴＩＣＥＴＨＥＥＸＣＥＳＳＨＥＡＴＥＸＰＥＲＩＭＥＮＴＳＯＮＣＯＬＤＦＵＳＩＯＮＩＮＴＩＴＡＮＩＵＭＬＡＴＴＩＣＥ￥ＺｈａｎｇＱｉｎｇ...     

PAN基活性炭纤维的表面及其孔隙结构解析

通过氮吸附等温线、Ｘ射线光电子能谱以及扫描电子显微镜（ＳＥＭ）对聚丙烯腈（ＰＡＮ－Ｐｏｌｙａｃｒｙｌｏｎｉｔｒｉｌｅ）－基活性炭纤维（ＡＣＦ－Ａｃｔｉｖａｔｅｄ Ｃａｒｂｏｎ Ｆｉｂｅｒ）的表面和孔隙结构进行了分析，结果表明吸附测量可以提供有关碳质吸附剂的孔结构复杂性；通过ＸＰＳ对ＰＡＮ基ＡＣＦ的表面官能团的种类及含量进行了表征，由ＳＥＭ对ＰＡＮ基ＡＣＦ的表面以及断面的孔隙结构进行直拉观察，提供了     

Dual Wavelengh Pr:YLF Laser

ＤｕａｌＷａｖｅｌｅｎｇｈＰｒ：ＹＬＦＬａｓｅｒ￥ＲＵＡＮＳｈｕａｎｇｃｈｅｎ（Ｘｉ＇ａｎＩｎｓｔｉｔｕｔｅｏｆＯｐｔｉｃｓａｎｄＦｉｎｅＭｅｃｈａｎｉｃｓ，ＡｃａｄｅｍｉａＳｉｎｉｃａ，ＸＩ＇ａｎ７１００６８，Ｃｈｉｎａ）Ｊ．Ｍ．Ｓｕｔｈｅｒｌａｎ...     

北京同步辐射装置及科学活动家

简要介绍了北京同步辐射装置（ＢＳＲＦ）及其在生物科学、材料科学、催化剂、地矿和Ｘ射线光刻等领域的科学研究进展。     

非晶纳米发光材料(Y,Eu)_2O_3-SiO_2发射光谱的分析研究

ＥＸＡＦＳ测定表明ｓｏｌ－ｇｅｌ方法制备的纳米非晶（Ｙ，Ｅｕ）２Ｏ３－ＳｉＯ２发光材料中，发光中心Ｅｕ３＋的局域环境和晶态Ｘ２型Ｙ２ＳｉＯ５Ｅｕ中Ｅｕ３＋离子的局域环境相似．以此结构为依据，用Ｍ．Ｆ．Ｒｅｉｄ的方案计算了晶场迭加模型中的能级参数及光谱强度参数，并得到了与实验结果基本一致的理论光谱图     

DEUTERIUM INFLUX PROFILE ALONG THE APEX OF THE UPPER X-POINT TILES IN JET

ＤＥＵＴＥＲＩＵＭＩＮＦＬＵＸＰＲＯＦＩＬＥＡＬＯＮＧＴＨＥＡＰＥＸＯＦＴＨＥＵＰＰＥＲＸ－ＰＯＩＮＴＴＩＬＥＳＩＮＪＥＴ￥Ｙ．Ｋ．Ｚｈｕ（ＳｏｕｔｈｗｅｓｔｅｒｎＩｎｓｔｉｔｕｔｅｏｆＰｈｙｓｉｃｓ，Ｐ．Ｏ．Ｂｏｘ４３２，Ｃｈｅｎｇｄｕ６１００４１...     

Te—Se—I玻璃及添加As和Ge元素的结构,性能与量子化学计算研究

用自洽场离散变分Ｘα（ＳＣＦ－Ｘα－ＤＶ）量子化学计算方法研究了Ｔｅ－Ｓｅ－Ｉ玻璃及添加Ａｓ和Ｇｅ元素的体系，讨论了结构、性能与化学键之间的关系。计算表明离子键和共价键强度的次序都是Ｇｅ－Ｓｅ〉Ａｓ－Ｓｅ〉Ｔｅ－Ｓｅ，与相应的玻璃转变温度的实验结果一致。含有一配位碘原子的Ｔｅ－Ｉ键比含有二配位碘原子的Ｔｅ－Ｉ键强。Ａｓ－Ａｓ和Ａｓ－Ｉ键比两类Ｔｅ－Ｉ键都强。较强的Ａｓ－Ａｓ和Ａｓ－Ｉ键取代较弱的Ｔ