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考虑了一种水下高斯噪声环境中的多通道点目标自适应检测问题,且高斯噪声的协方差矩阵未知。通常,描述这类问题的假设检验中包含多重未知变量,所以不存在一致最优检验,为此,我们采用Durbin检验准则的一阶近似寻求其次优解。在设计阶段,推导出Durbin检验所对应的检验统计量,以及虚警概率的闭式解,并由此证明Durbin检验具有对噪声协方差矩阵的恒虚警特性。在仿真阶段,分析了新检测器的性能,并与传统的广义似然比检验(GLRT)、自适应匹配滤波(AMF)检测器进行比较。仿真和实验结果表明在目标导向向量失配情况下,Durbin检验的检测性能优于传统检测器,但是在信号匹配情况下Durbin检验的检测性能略有损失。 相似文献
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在瑞奇-康芒检测中,被检平面本身所固有的像散和大曲率在被检系统波像差数据中都表现为像散。由于被检平面处于发散光路中,这就使得平面面形与系统波像差之间的关系(即影响函数)变得十分复杂,推导起来十分困难,只能进行定性或半定量检测。文中介绍了如何通过计算机光线追迹模拟瑞奇-康芒检验,在两个瑞奇角下得到两组影响函数,以此建立过定方程组,由干涉仪检测得到的两个不同瑞奇角下的系统波像差,通过最小二乘法解过定方程组,拟合得到被检平面镜的面形误差;实现了大口径平面镜的定量检测,并以平面镜直接检验的面形误差作为对比,检验结果的一致验证了该方法的准确性与可行性。 相似文献
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超微弱生物发光图像中的统计检验 总被引:4,自引:2,他引:2
应用光电阴极探测灵敏度为0.5cps/mm^2的超高灵敏度的光电成像系统,获得了绿豆芽和活体昆明鼠的超微弱生物发光图像,并用统计理论研究了极弱光强条件下光子图像的信号检测和问题,文中在信号和噪声均为泊松分布的条件下,分析了从光子噪声中检验是否有信号的判据以及影响到检验的5个因素对检验结论的影响,以此判据成功地检验到实验获得的昆明鼠发光光子图像中的信号。 相似文献
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光谱检测技术在特种设备检验中的应用 总被引:1,自引:0,他引:1
本文论述了光谱检测技术在承压类特种设备检验和事故分析中的作用。同时简单介绍其使用方法和原理,并指出光谱检测技术的发展新趋势。 相似文献
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由中国科学院声学研究所科声技术公司开发的SL-I便携式振动信号检测仪,功能价格比高,性能可靠,使用方便,特别适用于现场测量记录与分析。 一、用途 1.可应用于桩基各种检测方法之信号记录与分析。2.工业振动与噪声信号之记录与分析。3.在医学上作心电、心音、心动信号分析。 相似文献
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针对背景和目标的先验光谱特征未知的条件,给出一种基于单似然检验的高光谱图像小目标检测器。小目标相对于背景的低概率性使得高光谱图像数据对目标光谱信号的矩特征几乎不施加约束,可在最大熵条件下将广义似然比检验简化为对背景似然的单似然检验;利用全部数据样本建立无参估计模型以充分利用样本信息,从而得到基于单似然检验的高光谱图像小目标检测器。该检测器避免了统计模型误差和不明确物理含义特征对实际高光谱图像数据检测带来的影响。使用可见光/近红外波段机载I型实用型模块化成像光谱仪(OMIS-I)高光谱图像进行了实验,实验结果及相应理论分析表明该算法可有效检测高光谱图像中的空间低概率目标。 相似文献
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由中国工程物理研究院核物理与化学研究所和中国科学院上海精密:光学机械研究所联合研制的LF—11激光装置,7月12日至13日通过了由中国科学院和中国工程物理研究院联合主持的技术鉴定(LF-11(?)室照片见封底)。 相似文献
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验室遥感科学国家重点实验室依托中国科学院遥感应用研究所、北京师范大学,实验室是原中国科学院遥感信息科学重点实验室和北京师范大学遥感与地理信息系统研究中心的基础上联合组建而成。于2003年获得科技部批准,2004年进入正式建设期,2005年通过国家验收和全国实验室评估。 相似文献
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由中国科学院声学研究所与航天工业总公司703研究所共同承担的国家八六三高技术项目“陶瓷材料超声无损检测”研究,于1994年11月18日在北京通过了技术成果鉴定.鉴定会由中国科学院应用研究与发展局主持.鉴定委员会由分别来自超声无损检测领域、材料领域的11位教授、研究员组成.近他人参加了鉴定会.国家科委、八六三联办的有关领导和中科院计划财务局成果处,该项目的两个承担单位的领导等出席了会议.结构陶瓷是具有一系列优良性能的新型材料,为各先进国家所重视.该类材料硬度大、比刚度大坝1]度/密度)、耐高温、耐腐蚀、耐磨损,… 相似文献
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1973年成立了中国科学院高能物理研究所,张文裕所长一直强调高能物理的发展要有自己的实验基地,为此必须重视加速器物理、实验和理论物理三部分的发展。1978年,中国科学院成立理论物理研究所之前,科学院领导曾有意邀请朱洪元将高能所理论室主要骨干一起带过去,并任所长。 相似文献
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大口径凸非球面反射镜的检测方法 总被引:1,自引:0,他引:1
大型凸非球面的传统检测方法使用的是背部检验。当零件需使用特殊材料(如采用碳化硅)时就无法再使用传统的背部检验方法,针对此问题,初步研究了检测凸非球面的可行性原理和方法。所研究的凸曲面为一椭球面,口径为120mm,通过设计得出了相应的结果,实现了新型光学元件,即二元光学在凸曲面检验中的应用。 相似文献
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