二维相移逻辑云纹法—条纹图全自动处理的一种方法

本文报告的二维相移逻辑云纹法，可对二维全场条纹图，进行全自动处理。这种方法用了经典云纹的概念，运用了相移的思想，用计算机进行逻辑运算，从而获得了全场条纹图上任意点的信息，为后续的运算提供了方便。这种方法可用于若干种条纹图的处理。     

相移逻辑云纹法（PSALM）用于位移场和应变场测试

本文讨论了相移逻辑云纹法用于位移场、应变场测量时的原理，把它用于细观力学问题研究可得到１５×１５μｍ２微区内的应变分布，实验表明，此方法可快速全自动得到结果．     

新型高倍显微镜云纹测量技术及其应用

本文介绍了两种新型的高倍显微镜云纹测量技术，即激光扫描共聚焦显微镜（LSCM）云纹法和扫描电子显微镜（SEM）云纹法。阐述了LSCM云纹和SEM云纹的形成及测量原理，同时对此两种云纹法加以对比，比较其各自的特点。此外，还对两种云纹法的应用进行探讨，针对测量物体表面变形和表征物体表面周期性结构特征这两类应用领域，分别以测量多晶铝合金板的残余变形和识别日本纹白蝶翅膀表面结构为例介绍LSCM云纹法的应用，以识别绿带翠凤蝶翅膀表面结构为例介绍了SEM云纹法的应用。实验结果证明了LSCM云纹法和SEM云纹法的可行性、灵活性及高灵敏度特性，均为高效、无损的全场测量技术，在微纳米尺度力学特性测量和表征方面有广泛的应用前景。     

扫描隧道显微镜（STM）纳米云纹法及相移技术研究

本文提出了应用扫描隧道显微镜（STM）纳米云纹法的测量面内位移的原理。测量中，扫描隧道显微镜的探针扫描线作为参考栅，物质原子昌格栅结构作为试件栅，由这两组栅线干涉形成云纹进行纳米级变形测量。同时，利用PZT控制载物台使试件沿栅线的垂直方向转动，来实现从0到2π的四步相移。文中对扫描隧道显微镜纳米云纹的形成原理和测量方法以及相移技术进行了详尽的讨论。并运用该方法对高纯定向裂解石墨（HOPG）的纳米级变形虚应变进行了测量研究。     

双折射材料初应力的定量研究相移等达因技术的应用

文章提出两种用相移等达因技术对存在于双折射材料内部的初始应力进行定量分析的方法，并以两种常用的双折射材料Ｐ６和Ｈｏｍａｌｉｔｅ１００为例进行了内部初应力的实验研究，给出了材料内部初应力的分布。以上研究说明双折射内部初始应力不容忽视，数字相移等达因技术是双折射材料内部初始应力进行定量分析的有力手段     

基于偏振投影与空域耦合的两步相移测量方法

栅线投影测量是一种被广泛采用的非接触、高精度三维形貌测量方法。然而由于时间相移技术不能在同一时刻采集相移图像,导致这一技术在工业在线检测中难以发挥应有的作用,因此本文结合偏振相机技术,提出了一种基于双偏振投影校正的空间相移测量方法。该方法通过在一对投影仪镜头前加装偏振方向正交的线偏振片,并采用本文提出的投影仪自校正方法,将具有恒定相移量、但偏振方向不同的相移栅线图案投影到待测物体表面,利用偏振相机单帧采集即可获得不同偏振方向的2幅相移图像,从而实现空间两步相移。实验结果表明,该方法对于非消偏振表面具有很好的测量效果,2幅相移图像的采集时间与相机曝光时间相同,可以用于在线测量。     

新型高倍显微镜云纹测量技术及其应用

本文介绍了两种新型的高倍显微镜云纹测量技术,即激光扫描共聚焦显微镜(LSCM)云纹法和扫描电子显微镜(SEM)云纹法.阐述了LSCM云纹和SEM云纹的形成及测量原理,同时对此两种云纹法加以对比,比较其各自的特点.此外,还对两种云纹法的应用进行探讨,针对测量物体表面变形和表征物体表面周期性结构特征这两类应用领域,分别以测量多晶铝合金板的残余变形和识别日本纹白蝶翅膀表面结构为例介绍LSCM云纹法的应用,以识别绿带翠凤蝶翅膀表面结构为例介绍了SEM云纹法的应用.实验结果证明了LSCM云纹法和SEM云纹法的可行性、灵活性及高灵敏度特性,均为高效、无损的全场测量技术,在微纳米尺度力学特性测量和表征方面有广泛的应用前景.     

一种散光图象双折射相移的方法

由Pindera等提出了等达因法导出了平面问题的三个应力分量，可以非破坏性测取受力物体内部的应力状态，是一种有效的光测技术，应力分量与等达因条纹级次的导数相关，为得到具有高测试精度的应力分量在等达因条纹测试中引入了双折射相移技术，文中提出了一种在散光激光入射光路中用加入一可调偏振片和一可调1／4波片实现散光图象双折射相移的方法，该方法设备简单，能保证总体光强的一致性。     

用矩形栅自动相移法测量三维物体形状

本文介绍了一种自动测量物体三维形状的新方法。该方法将矩形栅投影于三维物体表面，利用图像处理系统自动产生云纹和自动实现云纹相移，实现了三维物体形成恢复。本文通过实验验证了该方法的正确性下处理精度。方法容易实现，能较好消除多种系统误差，抗干扰能力强，精度和自动化程度高。     

三维电子束云纹法

三维电子束(3D电子束)云纹法是一种微尺度三维变形测量方法。该方法通过在试件表面制作高密度光栅,结合双目视觉立体成像技术,在SEM中形成两个角度的电子束云纹图,即可分析获得三维变形信息。考虑到离面变形与面内变形计算时的相互耦合关系,本文对现有的3D电子束云纹法进行了进一步发展,系统推导了3D电子束云纹法的通用理论公式。利用变形前后不同角度拍摄的电子束云纹图,可分别迭代计算出面内变形、离面变形和形貌等信息。对全息光栅鼓泡变形的验证实验证明了本文发展的3D电子束云纹法理论的正确性。     

三维相移电子散斑干涉法在柴油机机身中的应用

本文通过一新的三维电子散斑干涉方法，结合四步相移技术和图象处理技术，从三幅全场散斑位相条纹图分离出独立的u、υ、w场位移。测量系统的特点是用三个激光器作为光源，一个PZT相移器推动三个反射镜产生参考光并实现相移以及CCD摄像机前放置大错位剪切镜。将该测量系统应用到柴油机机身部件测量上，得到了机身主轴承孔周的三维位移场，并将此结果作为有限元计算的边界条件，得到了精确的柴油机机身计算结果，证明这一新技术可为柴油机零部件的强度和刚度分析评价提供一种十分有效的方法。     

面内和离面位移场的电子散斑（ESPI）自动检测技术研究

本文采用频域同态滤波技术，减少了电子散斑的噪声，得到高质量的条纹图，并介绍一种自行设计的新型相移器，它结构简单，性能稳定，测试精度高和操作方便，此外，应用以上两种技术，以承受均布载荷周边固定的圆板为例，实现了电子散斑三维位移场的自动测量，实验与理论值吻合良好。     

白光数字散斑图像频域自动识别技术——用于逐点分析的数字相移法

提出了一种应用于白光数字散斑图像频域位移测量技术的数字相移方法,利用计算机本身的能力,无需增加任何设备,通过计算机生成的四幅图像进行相移计算,得到逐点分析的条纹的未去包裹图像,从该图像确定位移的方向和大小,实现了白光数字散斑图像的全自动化处理。白光数字散斑方法设备简单,对环境的要求低,无需防振和相干光源,引入本文提出的数字相移技术,由于充分利用了计算机数字图像处理的功能,在未增加任何设备的情况下实现了全自动位移测量,是一种适合工业现场测量的有发展前途的位移测试的技术。     

频域滤波及相移技术在ESPI中的应用

本文针对电子散斑条纹颗粒性强这一特点,采用频域同态滤波技术,对ESPI 条纹进行了滤波处理,实验表明,该方法对改善 ESPI 条纹质量非常有效.另外,本文还推出了一种自行设计的新型相移器,它结构简单,操作简便,并且稳定性好,可适用于各种光力学干涉光路.文章最后使用双光束电子散斑法,应用以上技术,对一个带方孔板的平面应力模型的面内位移进行了定量分析.     

微电子机械系统（MEMS）面内位移的扫描离子束云纹法实验研究

本文提出应用扫描离子束云纹法测量微电子机械系统面内变形的新方法。对该方法的测量原理以及实验技术进行详尽地阐述，通过平行云纹典型实验对本方法的测量精度进行了检验。成功地将扫描离子束云纹法应用于微悬臂梁表面氧化层随时间生长所引起的变形测量，实验结果表明了该方法的可行性。     

光弹条纹图像的全场相移技术

本文详细分析了光弹性条纹图像的特点，利用图像处理技术，结合相移法及Ｔａｒｄｙ补偿法，实现了等倾线和等差线的全场相移，使得模型中任一点的主应力差值及第一主应力方向值可由计算机自动判读，实现了光弹性实验数据的自动处理。     

云纹干涉仪中偏振相移的实验方法研究

本文根据偏振相移原理,将其成功地应用于云纹干涉系统中,给出具体实施方案,利用该装置进行实验,得到一组相移条纹图,给出相移结果和条纹倍增结果.     

数字散斑剪切干涉及偏转平台法相移系统研究

在传统的剪切电子散斑干涉中 ,直接观测到的是干涉条纹图样。因此 ,如何将位移导数场的定量信息从剪切电子散斑干涉条纹图案中提取出来 ,一直是人们关心的问题。本文运用传播光矢量对数字散斑剪切干涉的条纹形成作了理论解释 ,使其物理意义更加清晰。理论分析表明 ,物体的微小偏转可引入线性附加位相。因此 ,通过连续偏转物体可实现剪切电子散斑干涉的相移。本研究通过计算机控制载物平台的精细旋转实现相移 ,结合传统的数字散斑剪切干涉技术以及四步相移算法 ,实现了数字剪切散斑干涉相移系统。利用该系统进行了中心加载、周边固定的圆盘的典型实验 ,实验结果表明该系统可以方便有效地提取出位移导数场的定量信息。     

虚拟云纹实验方法及应用

研究了虚拟云纹实验的原理．特点是应用数字参考栅和数字试件栅干涉形成数字云纹．讨论了相移技术在数字云纹中的应用,并通过人机交互界面程序的编制,将光栅完全数字化模拟,输入力学参数即可直观地演示云纹图形,并按照相移原理做出相应的实验数据自动处理,由云纹图形计算应变场．     

非正弦格栅相移技术

为将高精度、自动化的相移技术引入非相干光投影格栅测量高度的方法中,本文详细地研究了非相干光投影格栅法使用的非正弦格栅用于相移的可能性,从而发展出非正弦格栅相移技术,拓展了相移法的概念和使用范围,研究结果表明,并非仅有正弦性格栅可以用于相移法,大部分周期性格栅都可用于相移法,并且仍可有较高的精度.文中在理论分析的基础上,进行了模拟计算,并给出了实例。