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在对变焦距光学镜头进行杂散光系数测试的过程中,需要了解各测试环节的作用及对测量结果的影响。讨论了准直物镜使用与否对杂散光系数测量结果的影响。通过对杂散光形成机理的分析,将杂散光来源分为视场内与视场外两种,阐述不同来源杂散光的不同特点及这两种杂散光通过准直物镜后的状态。用两个参数不同的变焦距光学镜头在有无准直物镜两种情况下杂散光系数的测量结果,说明准直物镜在杂光测试中的作用。对于视场外入射光束形成的杂散光,准直物镜的使用与否对其测量结果影响巨大,而对视场内入射光束形成的杂散光影响很小,测量时可以利用准直物镜来判断光学镜头杂散光的来源。同时通过实验说明入射光线在准直物镜间的多次反射形成的杂散光约为1%,它可作为系统误差从测量结果中剔除。 相似文献
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根据光学衍射成像理论,建立了黑斑法测量光学系统杂光的杂光系数解析式.该解析式包括了被测系统的结构参数和测试条件两部分.并编制了计算程序,将计算值和测量结果进行了比较,两者较为一致. 相似文献
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测试条件对杂光系数测试结果的影响 总被引:1,自引:0,他引:1
针对同一光学产品的杂光系数由于测试条件的不同,测试结果往往差别很大,无法进行准确比较的问题,对几种光学镜头在不同的测试条件下反复进行了杂光系数测试实验。通过理论分析和实验测试给出了不同黑体目标尺寸和接收光阑孔径以及是否加装准直镜对杂光系数测量结果的影响。结果表明,对同一光学产品,选取的黑体目标尺寸越大,测试结果杂光越小;选取的光电接收器件接收光阑孔径越大,测试结果杂光越大。另外,准直物镜的使用会引入新的杂光,令杂光测试结果增大,但增大的量值可视为定值,进而从测试结果中减除。 相似文献
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报告了一种新的长焦距光学系统杂光系数测量装置,该装置除具有避免了制作大直径积分球的优点外,还能精确测量轴外杂光系数,分析各部分杂光源对杂光系数的影响. 相似文献
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300~1100nm多波段成像光学系统设计及杂光分析 总被引:1,自引:0,他引:1
设计了一套300~1100nm多波段光学系统,该系统能对目标的近紫外、可见光和近红外3个波段同时成像,可满足目标多波段信息探测的要求。由于在光学系统中镜筒内壁反射和棱镜表面反射会产生杂光和鬼像,因此,利用Light—Tools软件对此系统的杂光和鬼像进行了模拟分析。模拟结果表明,视场之外11.7—18.3°和-11.7~-18.3°的入射光线被胶合棱镜上下表面反射后,会聚焦到3个探测器靶面范围内,形成鬼像;6.2°-9.8°和一6.2°--9.8°的入射光线被镜筒反射后会在3个探测器上形成杂光。利用设计的多波段光学系统进行了相关实验,结果证明了模拟分析的正确性,表明此分析能用于指导多波段光学系统的设计和研制。提出了减少杂光和鬼像的相应措施,实验结果验证了提出的措施能够减少杂光及消除鬼像,提高系统成像质量。 相似文献
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适合在微机上使用的杂光分析方法 总被引:5,自引:0,他引:5
提出了一种适用于微机条件的杂光分析方法,用接近大型杂光分析软件的分块计算方式计算主反射镜的一次散射、遮光筒-主镜的二次散射以及筒边的衍射散射,可用于估计遮光完善光学系统的杂光水平.实例计算表明,分析结果十分近似大型软件APART的结果. 相似文献
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本文用麦克斯韦方程组分析了高斯光波的偏振特性。结果表明,场矢量除了含有主偏振分量和纵向偏振分量以外,还存在一个非零的正交偏振分量,并提出了一种基于激光束偏振特性的准直测量方法。 相似文献
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物距—像距法测凹透镜焦距的研究 总被引:1,自引:0,他引:1
本文对物距—像距法测凹透镜焦距的系统误差、实验“仪器”误差和标准偏差进行了相应的比较和分析,由此指出了实验测量过程中应注意的一些问题。 相似文献
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光学材料的折射率和色散系数对光学系统成像影响极大,如折射率对球差等单色像差的影响极为敏感,而色散系数则对色差有直接影响。本文将以具体产品为例.分析光学常数对折射物镜的影响。 相似文献
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HL—1装置铁芯变压器气隙研究 总被引:2,自引:2,他引:0
本文对HL-1装置铁芯变压器气隙进行了实验研究和理论计算。模拟实验给出了不同气隙情况下,空载和负载放电时,等离子体区的杂散场和铁芯磁化曲线测试结果。并用HL-1装置的理论计算值及力线分布做了验证。 相似文献
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本文根据激光喇曼分光计中超低杂散光测试的若干特殊问题提出了几点考虑。为了获得10~(-12)量级以下的杂散光测试限,文章重点就本实验所用的测试光源,前置单色器,光入射方式、分段减光方法及光电检测系统等问题进行了一些讨论,并给出了相应的实验结果。 相似文献