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1.
基于点源透过率的空间光学系统杂光测量
王治乐
龚仲强
张伟
王付刚
《光学技术》
2011,37(4):401-405
杂光测量是光学系统杂光分析的有效途径之一,它能够对消杂光设计结果进行准确的评估.针对空间光学系统的工作环境,考虑到其视场外有强烈辐射源(如太阳等),采用点源透过率方法来验证光学系统抑制杂光的能力.搭建了一套无中心遮挡的离轴抛物面反射式杂光测量装置,测量动态范围为10-1~10-11.利用该装置对口径为300mm、全视场...
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