|
|||||
|
|
| KAF-4301E CCD在低温下微光成像特性的实验研究 | |
| 引用本文： | 李彬华,魏名智,叶彬浔,宋谦.KAF-4301E CCD在低温下微光成像特性的实验研究[J].光学技术,2006,32(1):3-7. |
| 作者姓名： | 李彬华 魏名智 叶彬浔 宋谦 |
| 作者单位： | 1. 中国科学院国家天文台天文光学与红外探测器实验室,北京,100012;昆明理工大学,昆明,650051 2. UCO/Lick Observatory,University of California,Santa Cruz,CA95064,USA 3. 中国科学院国家天文台天文光学与红外探测器实验室,北京,100012 |
| 摘 要： | 介绍了实验的原理和方法;重点介绍了在低温下KAF_4301E CCD的成像特性———量子效率(QE)、电荷转移效率(CTE)、读出噪声、暗电流和满阱等的测试结果。实验结果显示,随CCD工作温度降低并超过其最小标称值后,虽然暗流则明显减小,但CTE性能快速变差。从理论上对所得的结果进行了简短的分析和讨论。分析了该型号CCD在微光成像方面的应用前景。 |
| 关 键 词： | 光电探测器 CCD 成像技术 低温测试 |
| 文章编号： | 1002-1582(2006)01-0003-05 |
| 收稿时间： | 2005/1/28 |
| 修稿时间： | 2005年1月28日 |
Experiment study on low light level imaging characteristics of KAF-4301E CCD at low temperatures |
|
| LI Bin-hua,WEI Ming-zhi,YE Bin-xun,SONG Qian.Experiment study on low light level imaging characteristics of KAF-4301E CCD at low temperatures[J].Optical Technique,2006,32(1):3-7. | |
| Authors: | LI Bin-hua WEI Ming-zhi YE Bin-xun SONG Qian |
| Abstract: | The imaging characteristics of KAF-4301E CCD,such as quantum efficiency(QE),charge transfer efficiency(CTE),read noise,dark current,and full well,were calibrated and studied at low temperatures.The results indicate that,when the CCD operating temperature is reduced below its absolute minimum rating,although the dark current performance improves obviously,the CTE performance degrades rapidly.After an analysis and discussion at the depth of theory,some possible applications of the CCD on faint-object imaging are recommended. |
| Keywords: | photoelectric detector CCD imaging technique low-temperature test |
| 本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录！ | |