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1.
本文定义了二阶微分方程的弱 Carathéodory解 ,在不涉及紧型条件的情形下 ,直接用迭代法证明了 Banach空间二阶非线性常微分方程两点边值问题存在唯一解 ,并给出逼近解迭代序列的误差估计 ,对周期边值问题得到类似的结果 相似文献
2.
非傍轴平顶高斯光束M2因子两种定义的比较研究 总被引:3,自引:2,他引:1
基于功率密度的二阶矩方法,推导出了非傍轴平顶高斯(FG)光束束宽和远场发散角的解析表达式·研究表明,当w0/λ→0时,远场发散角趋于渐近值θmax=63.435°,与阶数无关·使用非傍轴高斯光束代替傍轴高斯光束作为理想光束,研究了非傍轴FG光束的M2因子,并与传统定义的M2因子作了比较·在非傍轴范畴,非傍轴FG光束的M2因子不仅与阶数N有关,而且与w0/λ有关·按照定义,当w0/λ→0时,非傍轴FG光束的M2因子不等于0,对阶数N=1,2,3时,M2因子分别趋于0.913,0.882和0.886·当N→∞时,M2因子取最小值M2min=0.816· 相似文献
3.
非傍轴平顶高斯光束M2因子两种定义的比较研究 总被引:1,自引:1,他引:0
基于功率密度的二阶矩方法,推导出了非傍轴平顶高斯(FG)光束束宽和远场发散角的解析表达式.研究表明,当w0/λ→0时,远场发散角趋于渐近值θmax=63.435°,与阶数无关.使用非傍轴高斯光束代替傍轴高斯光束作为理想光束,研究了非傍轴FG光束的M2因子,并与传统定义的M2因子作了比较.在非傍轴范畴,非傍轴FG光束的M2因子不仅与阶数N有关,而且与w0/λ有关.按照定义,当w0/λ→0时,非傍轴FG光束的M2因子不等于0,对阶数N=1, 2, 3时,M2因子分别趋于0.913,0.882和0.886.当N→∞时,M2因子取最小值M2min=0.816. 相似文献
4.
非线性奇异边值问题的正解 总被引:1,自引:0,他引:1
路慧芹 《应用泛函分析学报》2002,4(3):217-221
利用锥映射的不动点指数定量,研究了一类非线性奇异边值问题多个正解的存在性问题。在构造的解的存在条件之下,证明了奇异边值问题至少有两个正解的存在性定理。 相似文献
5.
6.
Khalid KOUFANY 《数学学报(英文版)》2006,22(5):1467-1472
Let Ω be a symmetric cone. In this note, we introduce Hilbert's projective metric on Ω in terms of Jordan algebras and we apply it to prove that, given a linear invertible transformation g such that g(Ω) = Ω and a real number p, |p| 〉 1, there exists a unique element x ∈ Ω satisfying g(x) = x^p. 相似文献
7.
FJZ-250型高速分幅相机时间测量不确定度分析 总被引:2,自引:1,他引:1
FJZ-250型高速转镜分幅相机因转镜速度的不可重复性,光机结构的构造原理和控制系统各路高压触发时间的漂移,导致了时间测量的不确定度。为此,须对相机测量数据进行校正。阐述了校正方法、提供了逐幅校正位置误差的修正系数。若以预置转速对应的名义周期值去处理测量结果,则相机的时间测量合成小确定度将达1%,对名义周期值和名义幅间间隔时间值进行修正后,则可降至0.3%。 相似文献
8.
9.
用三维TRS(totalrouthiansurface)自洽理论对奇奇核164Lu的位能面进行了计算,计算结果与实验上得到的ε2=0.38基本一致,从而从理论上确认了164Lu是三轴超形变核,并且指出了存在三轴超形变带的两个组态. Total routhian surface in~(164)Lu nuclei is calculated according to the three dimensional Total Routhian Surface (TRS) theory. The result of the calculation is in agreement with the experiment. At the same time, two TSD bands could be assigned to the configuration(π\(1/2), α=1/2)(ν\(5/2), α=1/2), (π\(1/2), α=1/2)(ν\(3/2), α=-1/2). 相似文献
10.
李建文 《工程物理研究院科技年报》2004,(1):418-419
为实现超声强衰减材料、多层结构件、重要焊接结构件中缺陷高灵敏度的超声检测和评价,并对自然缺陷形状、性质和大小进行分析和判别,实现对缺陷的精确定性、定量和定位,研制了一套五轴水浸超声扫查成像系统。该系统包括5个部分:超声波发射和接收系统,包括超声探伤仪(USIP12)和水浸聚焦探头:数据采集和图像处理系统,包括工控机和数据采集卡;五轴水浸超声扫查系统装置,包括精密三维扫描工作台、水平转台、探头摆动架、专用夹具、水槽、步进电机驱动卡和驱动电源:软件系统,由文件管理、参数设置、数据和图像处理等控制窗121组成。系统工作时,由运行在工控机上的测控程序向运动控制卡发出运动指令, 相似文献