新型感光影象微结构分析系统研制

本世纪50年代,Schade等人将Fourver分析方法用于照相过程,建立了感光材料清晰性的调制传递函数评价方法。根据感光材料调制传递函数理论,美国柯达公司于60年代建立了感光材料调制传递测试方法,即正弦调制传递函数测试法,70年代被定为国家标准。     

精密缩拍制样仪的研制

由于缩拍制样仪是正弦法测定MTF测量试片的制备系统,所以,只有当它满足了多方面的技术要求时,才能保证MTF测量值的准确性。而目前国内外可用于制备MTF测量试片的各种缩拍制样仪,都是由各种缩拍照相设备改装而成的,对正弦法测定MTF测量试片的制备来说,大都存在缩拍镜头质量不够理想、焦位调焦不太精确以及曝光量调节范围较小等不足之处,在一定程度上影响了缩拍制样的质量和效率。     

失配应力引起的Ga_xIn_（1－x）P外延层能带隙的移动

本文首次观察了用ＭＯＣＶＤ方法生长的ＧａｘＩｎ１－ｘＰ外延层的能带隙移动，并给出了ＧａｘＩｎ１－ｘＰ外延层光荧光（ＰＬ）峰能量随组分ｘ的变化关系，结果表明ＰＬ是探测混晶组分的简单而有效的方法之一。     

感光影像微结构分析仪的影像分析软件包研制

在感光影像微结构分析仪上研制出一套专用感光材料性能测试及影像质量评价专用分析测试软件包,使该分析仪具有一机多功能的特点,即能够同时对感光影像的多项性能指标进行分析测试.在测试过程中能自动进行数字采样,按编制好的程序计算,具有快速简便的优点.本文还对该软件包的设计思想、软件构成、测试方法、软件性能及测试结果作出详细介绍.     

“绿漆古”铜镜表层结构成分分析

“绿漆古”铜镜表层结构成分分析左健，邢锦云，刘先明，毛振伟，许存义（中国科学技术大学结构成分分析开放实验室安徽合肥２３００２６）ＳｔｒｕｄｕｒｅａｎｄＥｌｅｍｅｎｔａｌＡｎａｌｙｓｉｓｏｎＴｈｅＳｕｒｆａｃｅｉｎＡｎｃｉｅｎｔＣｈｉｎｅｓｅＧｒｅｅｎ...     

显微光密度计的维修

本室的1010M型显微光密度计是一台以MOTORDLAM 6800 cpu 8位微机控制的光机电一体化的平台式数字图象采集仪器。其辅助设备有2100A型磁带机及COMATAL图象处理系统。该仪器自开机十多年来，工作基本正常，性能较好，但也出现过一些故障。下面就如何排除这些故障作一简单介绍。     

失配应力引起的GaxIn1—xP外延层能带隙的移动

本文首次观察了用ＭＯＣＶＤ方法生长的ＧａｘＩｎ１－ｘＰ外延层的能带隙移动，并给出了ＧａｘＩｎ１－ｘＰ外延层光荧光峰能量随组分ｘ的变化关系，结果表明ＰＬ是探测混晶组分的简单而有效的方法之一。     

GaxIn1—xP混晶的拉曼散射研究

本文报道了Ga_xIn_(1-x)P混晶的室温拉曼散射和X射线衍射的测试结果。所用的样品用MOCVD方法生长在<100>晶向的GaAs衬底上。混晶组分x值在0.54～0.95之间。实验结果表明,Ga_xIn_(1-x)P混晶的长波长光学声子谱呈现修正的双模行为,具有类GaP和类InP两个光学支。     

PDS显微密度计的性能测试及分析

PDS(Photomaric Data Acquisition System)的主要技术指标指的是该仪器的一些性能指标的极限值。由于在实际工作中，光密度精度和坐标精度与仪器的线性、噪声、速度、扫描方向、步长、孔径等参数相互依赖和制约，所以必须弄清它们之间的关系，才能够获得高精度的数据。然而每台PDS显微密度计之间，这些相互制约的性能有很大的离散性，因此使某些参数的选取无固定方式，必须因不同型号的仪器和被研究图象的特征而变。为此，我们对本室引进的精密仪器PDS显微密度计的主要性能进行了测试及分析，获得了较为满意的测试及分析结果，可供PDS用户操作人员参考。