超导低电阻接头衰减法测试过程中的拟合偏差控制

超导技术在许多高新技术领域有着广泛而深远的应用前景,其中超导导体接头技术是超导发展过程中必不可少的关键环节之一,快速而又准确地评估低电阻接头显得尤为重要.本文在考虑超导体的E-J特性后,针对目前低电阻接头采用的衰减法测量,计算得出感应电流完整的衰减曲线方程-幂函数方程.对比目前广泛采用的指数方程拟合与采用幂函数方程拟合的偏差,指出采用指数方程代替幂函数方程拟合的必要条件,为接头电阻衰减法测试,尤其是低电阻接头情况下的测量提供参考.