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非晶硅X射线数字平板探测器是目前唯一可取代胶片照相的新型技术,对其成像特性的研究已成为高像质的DR和三维CT检测技术的基础。目前X射线成像系统均是以线性时不变理论作为分析基础的。基于X射线平板探测器成像系统、成像机理和几何参数建立了成像系统的点扩展函数(PSF)。用圆柱体等效二维PSF模型,使成像系统退化为比例系统,从而把复杂的反卷积运算转化成用代数方程来求解,能够快速实现通过探测器输出图像来估计透照工件的二维输入图像。此模型的建立为在实际检测中利用输出的图像通过线性变换得到输入估计。在DR系统中,基于上述数理模型建立了灵敏度模型,利用输出场强可以很好的再现输入场强。 相似文献
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根据ISO导则采用两种量化指标(Ⅰ、Ⅱ)评定原子吸收光谱法的不确定度。量化指标Ⅰ根据实验的操作流程,对不确定度的各来源因素进行量化表述,进而估算总不确定度。不确定度范围较小,可作为实验质量的最高标准,用于评价同一实验人员的测定结果质量。量化指标Ⅱ根据分析过程中的校准、标准物质测定、未知样品测定和分析质量控制四个环节分别对其不确定度各来源因素进行量化表述。采用量化指标Ⅱ评估出的不确定度范围较大,适用于评价不同实验人员或不同实验室之间测定结果的质量。在实际应用中可根据不同的评定对象选择合适的量化指标。 相似文献
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射线面阵探测器成像系统校正研究 总被引:1,自引:0,他引:1
基于线性、移不变理论,对射线面阵探测器成像的特性和系统成像所呈现出亮度不均匀的原因进行分析研究.通过分析线性系统成立的假设条件,给出了对实际成像中各像元点阵的偏置、灵敏度进行逐点校正的公式.在实验室,对基于PaxScan2520 面阵探测器的成像系统进行成像校正研究,取得了满意的效果,噪声得到有效的抑制,成像的不一致性得到改善.当检测较厚工件或工件厚度变化较大时,系统成像超出其线性范围,给出了二次校正的方法和公式,也取得了满意的效果. 相似文献
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