准直物镜对杂光测量结果的影响

论述准直物镜对杂光系数测量的影响，并给出实验例证，提出在高精度杂光测量中应扣除准直物镜杂光测量结果的影响。     

大型光学系统焦距的精确测量

主要分析目前国内外常用的光学系统焦距测量方法在大型光学系统焦距测量中存在的问题,提出了一种特别适用于大型光学系统焦距的测量方法,并对该测量方法进行了研究分析和验证,指出该方法还可推广应用于其它参数的测量。     

正交狭缝扫描式激光光束质量测量方法研究

传统激光光束质量测量方法在CCD相机靶面前激光光路上加装可调衰减模块，对激光光束进行衰减。但该方法受限于CCD相机像元尺寸限制，难以进行高精度测量。为此该文提出了一种滚轮狭缝式激光光束质量评价方法，在测量时采用狭缝滚轮上的扫描狭缝直接扫描被测激光光束，使用InGaAs探测器配合聚焦透镜进行测量。经过与电机同轴的高精度增量式编码器确保采集位置与采集数据同步，扫描频率根据被测激光脉冲频率和光斑的直径范围可进行调整，该方法对光斑空间采样分辨率优于1 μm。实验结果表明，采用该方法测得的激光M2因子数值与被测激光器提供数值一致，测量不确定度小于10%。     

利用环形子孔径拼接法检测非球面反射镜

为解决高精度检测非球面反射镜的难题,提出利用Zygo干涉仪完成非球面环形子孔径检测。通过移动待测非球面,使得由干涉仪产生的参考球面波,以不同的曲率半径匹配待测非球面的各个环带区域,分别测试每个环带,进而完成对整个非球面的拼接检测。以双曲面反射镜为例进行拼接检测,并搭建辅助光路,利用无像差点法对拼接结果进行验证。验证结果表明:该方法测量误差小于1/20 （=632.8 nm）。     

光电成像系统动态调制传递函数测量装置

在光电成像系统中,动态调制传递函数受到光学系统波像差、探测组件信号分辨率及传递特性以及载体运动引起图像模糊等环节对图像质量的综合影响,成为光电成像系统的重要参数之一。论文基于光电成像系统动静态调制传递函数的测试原理,研制一种动态调制传递函数测量装置,其中光学准直系统焦距为10 000 mm,运动目标速度控制范围达到30 mm/s～5 000 mm/s,满足长焦距光电成像系统的动态调制传递函数测试。利用该装置进行了一系列的实验研究,结果表明,动态调制传递函数测量重复性优于0.01,测量不确定度达到U=0.05（k=2）。     

提高变焦电视光轴稳定性的装调工艺技术研究

针对连续变焦镜头光轴稳定性精度难以控制的问题,分析了影响光轴稳定性的主要因素,运用UG软件对连续变焦电视的曲线套筒和导杆进行了三维实体建模,应用有限元的方法对该模型进行了热力学分析;提出了有别于原有调校措施的方法和控制数据,采用胶粘与压圈相结合的双重固定方式来固定前组镜,提高了该型连续变焦镜头装调过程光轴稳定性,将产品的光轴稳定性从原来的12以内提升到5以内,为后续同类产品的研制奠定了装调基础和理论依据。通过试验验证了所提出方法的有效性。     

用于光具座自动测量焦距的变焦光学系统设计

为了提高光具座自动测焦距时的测量精度,设计一套连续变焦光学系统。该系统包括自准直组件和变焦组件两部分,可以调节CCD靶面上接收到的图像大小,得到最佳测量结果。根据设计指标要求,在控制系统总长的基础上进行初始结构选择和像质优化。设计完成后的自准直组件焦距200 mm,变焦组件焦距200 mm~20 mm,对接后的变焦系统可实现图像大小1~10连续调节。模拟实验表明:变焦系统像质良好,MTF曲线接近衍射极限,弥散斑小于CCD像元大小,可以满足实际检测需求。     

测量非球面的动态波带片干涉仪

提出了能够精确测量非球面反射镜或透境形状和表面误差的动态波带片干涉仪(DZPI)。通过在微调过程中改变照明光的波长,DZPI产生的一系列条纹几乎是连续变化的干涉图形。因此,即使干涉条纹的最大级次大于100,也能识别出。根据这些干涉图,就可用计算机精确地算出测试条件下光学仪器的形状和表面误差。DZPI的有效性可用一简单实验来证实。     

一种定量测试大孔径球面面形的方法

通过对一大孔径凹球面面形的定量检验,论述了一种定量测试大孔径球面面形的方法。给出了测量实冽和结果,并进行了讨论。     

数字波面干涉仪测量误差消除方法

主要论述了数字波面干涉仪在测量过程中影响测量准确度的各种误差,并介绍了对于不同误差的消除方法。