强电磁脉冲上升时间对RS触发器损伤阈值仿真分析

对RS触发器中金属-氧化物-半导体场效应管（MOSFET）的烧毁作用进行研究,通过仿真分析在不同入射端口、不同上升时间的条件下RS触发器的损伤阈值,结合其内部温度分布图完成失效机理分析,进而得出对于上升时间长的强电磁脉冲,需要更高的峰值场强、更长的时间才能将RS触发器烧毁。