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1.
用于微位移测量的笔束激光干涉仪   总被引:3,自引:0,他引:3  
李直  赵洋  李达成 《光学技术》2001,27(3):206-208
介绍了一种基于空间干涉原理的亚微米零差干涉位移测量方法。该方法是对笔束激光干涉仪在微位移测量领域的应用 ,干涉仪的测量精度不受光束波前畸变等光源噪声的影响。给出了干涉仪主要结构参数的选取原则 ;构建了用于微位移测量的笔束激光干涉仪实验系统。实验结果表明 ,该系统具有纳米测量分辨率。  相似文献   
2.
用反三角函数表述的单频干涉仪瞬时相位的解析计算模型通常是分段或不连续的 ,不利于系统性能的综合分析。这里提出了基于神经网络的干涉仪瞬时相位的连续型计算模型 ,给出了网络学习方法。仿真研究结果表明 ,该模型对干涉仪瞬时相位的辨识精度优于 0 5° ,同时对干涉仪的光强波动有良好的鲁棒性 ;实验结果验证了这一点 ,为进一步提高单频干涉仪信号处理精度奠定了基础。此外 ,简要述及了该模型在其他测量领域 ,特别是速度 加速度测量领域的应用前景。  相似文献   
3.
基于遗传算法的干涉条纹数据处理方法   总被引:1,自引:0,他引:1  
李直  赵洋  李达成 《光学技术》2001,27(2):136-138
提出了基于遗传算法的干涉条纹数据处理方法。该方法是在最小二乘余弦曲线拟合的基础上 ,引入了具有全局优化能力的遗传算法以解决目标函数多极值问题 ,从而使得最小二乘余弦曲线拟合对干涉条纹处理具有很好的鲁棒性和自适应能力。仿真结果表明 ,在 2 0 %均匀分布噪声条件下 ,拟合模型主要参数 -干涉条纹空间频率及初相位 -拟合误差小于 0 .5 %。  相似文献   
4.
双激光束干涉条纹处理方法的研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
李直  赵洋  李达成 《光学技术》2001,27(4):310-312
在分析了双激光束干涉条纹特点的基础上 ,提出了基于遗传算法的最小二乘非线性曲线拟合法 ,以实现对双激光束干涉条纹的高精度细分定位。该算法以高斯调制余弦平方函数为拟合模型 ,为克服目标函数在参数空间上存在多极 (小 )值现象 ,引入了具有全局优化能力的遗传算法以实现对目标函数寻优。仿真及实验研究表明 :该方法用于双光束干涉条纹处理具有很好的鲁棒性和自适应能力  相似文献   
5.
弹流润滑条件下表面形貌对摩擦噪声的影响   总被引:1,自引:0,他引:1       下载免费PDF全文
研究了弹流润滑状态下表面形貌对摩擦噪声的影响.通过激光微加工方法在金属圆盘试件表面上制造了两种沟槽型织构表面形貌,在双盘摩擦磨损试验机上对不同表面形貌进行了摩擦噪声和摩擦特性试验,分析了线接触弹流润滑条件下不同工况和表面形貌影响摩擦噪声的机理,并结合有限元分析对结论加以验证.结果表明:载荷和转速的变化对线接触摩擦噪声有明显影响,由于线接触副工作在部分膜弹流润滑状态下,所以摩擦噪声的特性与干摩擦时类似,摩擦因数较大的表面会辐射出更强的摩擦噪声;特定结构的表面形貌能改善表面润滑特性,有效降低摩擦噪声声压级,沟槽型织构的存在可以打断接触区域应力分布,减轻接触面微凸体碰撞作用,从而降低了表面自激振动,同时合适的表面形貌结构也有利于润滑油膜的形成,减小了系统的摩擦能量,达到降低摩擦噪声的效果.  相似文献   
6.
李直  赵洋  李达成 《光学学报》2001,21(9):079-1083
分析了准直激光束照明条件下,相位板中心偏离准直光束中心对衍射图样的影响,并给出了数值仿真结果;提出了一种基于多层前馈神经网络的相位板衍射图样处理方法,相对于传统的最小二乘曲线拟合处理方法而言, 精度大为提高。该方法并能适用于包括无衍射光束等复杂图像的细分处理,从而为进一步提高大尺度准直精度奠定了基础。  相似文献   
7.
ICP-AES法同时测定硅铝钡合金中硅铝钡   总被引:1,自引:0,他引:1  
硅铝钡合金作为炼钢用的新型合金元素加入剂和脱氧剂,有利于造渣除杂质,细化晶粒,提高钢的强度和低温韧性。这种合金目前无统一的测定方法,大多采用重量法测硅和钡,滴定法测铝,但这些方法操作繁琐,周期长,使用有毒试剂多。本文用ICP-AES光谱法测定硅铝钡合金中硅、铝、钡,所测结果与化学法测定结果基本一致。方法简便、准确、快速、干扰少、精密度好。  相似文献   
8.
衍射型长程大型非球面轮廓测量仪   总被引:5,自引:3,他引:2  
李直  赵洋  李达成  肖体乔  夏绍建 《光学学报》2002,22(10):224-1228
分析了基于衍射准直技术的f-θ系统的特点,在此基础上提出了一种新型长程面形仪用以实现对大型非球面光学表面,特别是同步辐射中掠入射光学元件的高精度轮廓测量。成功地研制了样机,目前新型长程面形仪样机的纵向扫描范围可达370mm,分辨率优于0.25μrad,单点稳定性小于0.7μrad/200s,全程测量精度可达1.14μrad,全长扫描的重复精度为0.09μrad。样机测试结果表明,新型长程面形仪轮廓测量方案能够胜任对第三代及后继同步辐射光源中各种非球面光学元件的轮廓测量任务。  相似文献   
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