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钢中残量元素As,Sn,Sb的X射线荧光光谱分析 总被引:1,自引:0,他引:1
本文介绍了用日本理学3530XRF光谱仪扫描道测定钢中痕量元素As、Sn、Sb。由于短波强大的背景破坏了检测线的线性,通过用DATAFLEX 181B背景扣除的数据处理,消除了这些影响,成功地校准了曲线。方法简单;快速;XRFS结果与化学分析一致,该法已用于炼钢的过程控制和原材料分析。 相似文献
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