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本文利用X射线谱研究了吡嗪(C4H4N2)分子共价吸附于硅(100)面的几种吸附构型的几何结构和电子结构. 利用密度泛函理论结合团簇模型，对预测的吸附结构的碳K壳层(1s)X射线光电子能谱(XPS)和近边X射线吸收精细结构(NEXAFS)谱进行了模拟. 计算结果阐明了XPS和NEXAFS谱与不同吸附构型的对应关系. 与XPS谱相比，NEXAFS谱对所研究的吡嗪/硅(100)体系的结构有明显的依赖性，可以很好地用于结构鉴定. 根据碳原子的分类，研究了在NEXAFS光谱中不同化学环境下碳原子的光谱成分. 相似文献
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