微扫描技术对光电图像混淆噪声的影响

在分析采样理论和微扫描理论的基础上,引入了一个评价光电成像系统混淆噪声的品质因数,定量地分析了不同模式的微扫描对系统混淆噪声的改善程度。     

光电成像系统中的微扫描技术

在介绍微扫描成像原理的基础上,介绍了目前国际上流行的各种微扫描技术,分析了它们各自的特点和利弊因素,以及在关键技术上有望取得的突破。     

微扫描对光电成像系统图像噪声的影响

介绍了光电成像系统的噪声,运用功率谱分析方法推导了插值技术对噪声的影响。插值技术使时间噪声的功率谱变大,使固定模式噪声功率谱的谱值出现再分配,引起图像质量的改善。用计算机进行了模拟实验。