Zn1-xCoxO稀磁半导体薄膜的结构及其磁性研究

利用X射线吸收精细结构、X射线衍射和磁性测量等技术研究脉冲激光气相沉积法制备的Zn1-zCoxO(x=0.01,0.02)稀磁半导体薄膜的结构和磁性.磁性测量结果表明Zn1-xCoxO样品都具有室温铁磁性.X射线衍射结果显示其薄膜样品具有结晶良好的纤锌矿结构.荧光X射线吸收精细结构测试结果表明,脉冲激光气相沉积法制备的样品中的Co离子全部进入ZnO晶格中替代了部分Zn的格点位置,生成单一相的Zn1-xCoxO稀磁半导体.通过对X射线吸收近边结构谱的分析,确定Zn1-xCoxO薄膜中存在O空位,表明Co离子与O空位的相互作用是诱导Zn1-xCoxO产生室温铁磁性的主要原因.     

差分电荷密度在电子结构分析中的教学实践

差分电荷密度可以研究分子、团簇、固体材料以及分子与固体材料间相互作用导致的电荷重新分布，广泛应用于电子结构分析。作者在长期的理论研究与“密度泛函理论在化学中的应用”课程教学过程中发现，差分电荷密度计算根据研究对象和研究目标的不同，计算方法与结果也大不相同。根据研究的目标，差分电荷密度可以分为原子基、碎片基、特定对象的差分电荷密度及自旋电荷密度。如果不能正确理解其概念，选择合适的计算方法，则无法获取正确的电子结构信息。本文系统整理了常见与特殊差分电荷密度计算的类型、计算方法与适用研究体系，通过课堂教师讲解与演示、学生练习，结合探究性课后作业，使学生深入理解、掌握这一重要电子分析方法，为教学与科研提供重要支持。     

Zn1-xCoxO稀磁半导体薄膜的结构及其磁性研究

利用X射线吸收精细结构、X射线衍射和磁性测量等技术研究脉冲激光气相沉积法制备的Zn_1-xCo_xO (x＝0.01,0.02)稀磁半导体薄膜的结构和磁性.磁性测量结果表明Zn₁-xCo_xO样品都具有室温铁磁性.X射线衍射结果显示其薄膜样品具有结晶良好的纤锌矿结构.荧光X射线吸收精细结构测试结果表明,脉冲激光气相沉积法制备的样品中的Co离子全部进入ZnO晶格中替代了部分Zn的格点位置,生成单一相的Zn_1-xCo_xO 稀磁半导体.通过对X射线吸收近边结构谱的分析,确定Zn_1-xCo_xO薄膜中存在O空位,表明Co离子与O空位的相互作用是诱导Zn_1-xCo_xO产生室温铁磁性的主要原因. 关键词： 1-xCo_xO稀磁半导体')" href="#">Zn_1-xCo_xO稀磁半导体 X射线吸收精细结构谱 脉冲激光气相沉积法     

柱层析分离-气相色谱法测定脂肪酸甲酯乙氧基化物中二酯含量

采用硅胶柱层析-气相色谱法对月桂酸甲酯乙氧基化物(LME)中副产物二酯进行了定量分离与测定,同时考察了不同条件下合成的LME中二酯含量的变化规律。结果表明:LME中二酯含量随环氧乙烷(EO)加合数(n)的增加而先增大后趋平衡,当加合数n为8时,其质量分数为2.13%;并随反应温度升高而增大;随原料甲酯所含碳原子个数增加而降低。     

聚羟乙基脂肪酸甲酯分层现象浅析

将需分析的聚羟乙基脂肪酸甲酯(MEE)样品充分混匀,并经真空抽滤后,滤液经高速离心分成两层,上层为澄清液,下层呈浑浊或固化。收集上、下两层分别用于分析,用火焰原子吸收光谱法测定了下层中由催化剂所残留的镁量。用国标GB/T 5560-2003方法测定了上、下两层中作为合成中的副产物存在的聚乙二醇(PEG)。另取一定量的下层样品经水解处理并分离后,用核磁共振氢谱法测定其中副产物二酯的含量。结果表明:MEE下层样品中镁的残留量达0.421mg.g-1,下层样品中聚乙二醇质量分数为3.68%;下层中二酯(测定时预先除去样品中的PEG)及具有较高的环氧乙烷加合数的MEE的物质的量分数依次为16%和84%。据此认为上、下两层中组分及含量的不同是导致产生分层现象的原因。