基于正态分布的逐批抽样检验贝叶斯控制图控制限研究

在生产条件受控的状态下,先验分布与后验分布应服从同一分布,在假设该分布为正态分布的前提下,根据贝叶斯理论推导出均值、极差和标准差的迭代计算公式,并依此计算控制图的控制限,使有效的先验批检验信息得到充分运用,弥补传统控制图在小批量生产环境下样本信息不足的缺点。研究发现,基于贝叶斯原理的统计控制图控制限随着检验批次的逐渐增加,更接近控制界限的实际值,比传统控制图的控制效果更加可靠、有效。     

应用参数设计法改善轻触薄膜位置检查装置的测量精度

贴膜位置的偏移是轻触薄膜开关出现不良品的主要因素之一,位置偏移量的大小在很大程度上取决于用来检查贴膜位置偏移的位置测量装置的测量精度.通过参数设计的方法,系统分析影响位置测量装置测量精度的影响因素,依据L_(18)(2~1×3~7)正交表安排正交试验,将贴膜上20个金属弹片两两之间的距离作为信号因子,通过比例式校准模型分别计算每次试验的SN比和比例系数,分析最优的因子水平组合.研究表明,优化后的位置检查装置识别能力得到了明显的改善,最适合条件的位置检查装置具有更好的测量精确度.     

不忽略一次项损失时望大特性质量损失函数设计

田口先生提出的质量特性损失函数是用二次项来表示的,对于望大特性而言,质量特性实际上不可能达到无穷大。讨论了不能忽略一次项损失时,望大特性质量损失函数应采用二次式表示。研究了二次式损失函数中一次项损失系数和二次项损失系数确定的方法。比较分析了二次式损失函数中一次项损失和二次项损失的大小。本文的研究结果显示,田口先生经典的二次项损失函数是二次式损失函数的一种形式。实际问题也验证了本文的研究成果。     

基于测量质量损失函数的控制图控制界限的优化

控制界限和抽样间隔是控制图的两个基本参数。常规控制图是基于3σ原理确定的控制界限,该控制界限是在大量试验基础上依据经验确定的,并没有精确的公式推导.对于抽样间隔,常规控制图也没有明确的规定。田口博士的质量损失函数可以很好的解决质量经济性方面的一些问题.利用田口博士的理论,通过确定适宜的二次测量质量损失函数,可以确定控制图的最佳控制界限和最佳抽样间隔.文章简要介绍了常规控制图原理和田口博士的质量损失函数,重点叙述了田口博士反馈控制系统的测量质量损失函数,在此基础上,研究了控制图最佳控制界限和最佳抽样间隔,并且通过具体实例验证了该控制图良好的经济性.