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CMOS纳米分子混合电路(CMOS/nanowire/MOLeclular hybrid circuits, CMOL)在制造过程中会引入较高缺陷率, 从而导致可用映射资源的减少. 针对由此产生的映射困难问题, 本文采用单元分类思想, 对部分缺陷单元加以利用, 以增加可映射单元数, 进而提高映射成功率. 首先根据单元缺陷类型的差异, 将缺陷单元分为可用和不可用两类进行标记, 然后对可用缺陷单元加以利用, 并采用改进的进化算法完成单元容错映射. 实验结果表明, 与已有方法相比, 新方法在运行效率和成功率上分别得到了19.17%和30.14%的提升. 相似文献
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针对存在缺陷的CMOS/纳米分子混合(CMOS/nanowire/MOLeclular hybrid, CMOL)电路的单元容错映射问题, 提出一种基于矩阵表示的CMOL电路容错映射方法. 首先, 将逻辑电路和CMOL电路建模为矩阵表示; 然后采用文化基因(memetic)算法进行矩阵间可匹配字符的搜索, 采用小矩阵元值优先匹配的策略完成单元缺陷容忍映射. ISCAS测试电路的实验结果表明, 与已有方法相比, 本文方法在求解速度上有36.98%的提升. 相似文献
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