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Topological insulators' properties and their potential device applications are reviewed. We also explain why topologi- cal insulator (TI) nanostructnres are an important avenue for research and discuss some methods by which TI nanostructures are produced and characterized. The rapid development of high-quality TI nanostructures provides an ideal platform to ex- ploit salient physical phenomena that have been theoretically predicted but not yet experimentally realized. 相似文献
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在万物互联时代,安全和隐私风险逐步扩大,越来越多的人开始担忧产品的安全和隐私问题.小米集团具有手机和物联网等多种业务形态,"手机×AIoT"也已成为小米的核心战略.围绕手机和AIoT(人工智能物联网),小米在信息安全与隐私保护方面面临着非常大的挑战,也做了大量的工作.本文基于小米的信息安全和隐私保护发展历史,介绍了在手... 相似文献
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采用过氧化钠和氢氧化钠高温熔融铬矿石样品,以盐酸溶解熔块,合并溶液后用电感耦合等离子体原子发射光谱法测定样品中硅、铝、镁和铁的含量。选择212.412,308.215,285.213,238.204 nm分别作为硅、铝、镁、铁的分析谱线。用铬矿石标准样品配制标准溶液,对标准溶液的贮存方法进行了研究,对影响标准曲线稳定性的因素进行了讨论。SiO2、Fe2O3、Al2O3和MgO的线性范围依次为0.61%~14.64%,13.62%~27.74%,9.29%~15.17%和9.87%~21.49%。采用该法对铬矿石样品进行30d的连续测定,SiO2、Fe2O3、Al2O3和MgO测定值的相对标准偏差分别在0.51%~1.3%,0.45%~2.0%,0.50%~2.5%和1.4%~2.3%之间。 相似文献
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