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1.
一、质疑理论和实践都表明,对二元系试样,当只有吸收效应存在时,分析元素A的相对强度心可用双曲函数表示R_A=C_A/(C_A+a(1-C_A))(1)式中C_A为分析元素A的含量(重量百分浓度,下同),a为试样中基体元素B吸收效应校正系数,a=μ_m~B/μ_m~A,μ_m~A和μ_m~A是元素A和B的联合质量衰减系数。当μ_m~B=μ_m~A时,a≈1;当μ_m~B<μ_m~A时,a<1;当μ_m~B>μ_m~A时,a>1。Rasberry和Heinrich在《元素间效应存在下X  相似文献   
2.
历来各文献求算α系数和A系数(为了区别,凡不消去项的校正系数用α表示,有消去项的校正系数用A表示)都是先求出α系数,再消去一项转换成A系数。由此可见各种基体影响系数尽管名称和形式不同,其本质都是一致的,都来源于α系数。为此,本文从α系数入手,依照B-B方程的形式,采用所谓“加入法”,依次推出在元素体系中,在氧化物混合体系中,在稀释熔融体系中的方程式,从而给出基本α系数、混合α系数、修正α系数表达式及其相互转换关系,然后消去一项,分别推出在上述三种体系中的L-T方程式,从而给出基本A系数、混合A系数、修正A系数表达式及其相互转换关系,进而推出相应的α系数和A系数的相互转换关系,还可以推出不同消去项的A系数的转换关系。在上述推导基础上,结合文献几个分析实例,探讨一下消去项的选择问题,指出消去LOI(或LOF)项,分析元素i项,主元素各有其优点,应根据不同的试样分别选择上述三个消去项,为此而提出一种改进的熔融制片方法。  相似文献   
3.
由于电子计算机在 X 射线荧光分析中的应用,用数学公式来校正元素的基体效应已越来越广泛,其中基本参数法由于一些物理参数尚不确定,且需要复杂的计算,一般计算机不能胜任;α系数法也需要大量的数据处理,一般实验室使用有一定困难。下面两个数学公式:c_i=sum from r=0 to 2 a_(ir)I_i~r+I_i ∑m _(ij)I_j+∑b_(ij)I_j (1)c_i=sum from r=0 to 2 a_(ir)I_i~r(1+∑f_(ij)c_j)+∑b_(ij)C_j (2)只要有一套合适的标准,用小型计算机多重回归法求  相似文献   
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