同步辐射讲座 第二讲 同步辐射X射线荧光及其在植物微量元素分析中的应用

比较了同步辐射（SR）X射线荧光（XRF），电子和质子激发的X射线谱，介绍了XRF谱的采集方法及数据处理方法（主要是能谱方法），智能方法的无标样（基本参数法）定量分析原理，以及近期在植物微量元素分析中得到的结果。     

渗入Cs的沸石的结构分析

20 0 2年 8月 12日的Ｐｈｙｓ .Ｒｅｖ .Ｌｅｔｔ.第 89卷第 0 75 5 0 2页上发表了Ｐｅｔｋｏｖ等的论文“渗入Ｃｓ的ＩＴＱ - 4沸石 (Ｚｅｏｌｉｔｅ)的结构 :在膺一维空隙中的金属离子列和相关的电子” ,文中发展了Ｘ射线原子对分布函数 (ＰＤＦ)方法 .这种结构可以发展成为应用广泛的新的电极材料 .沸石ＩＴＱ - 4是一种由ＳｉＯ4四面体为骨架的网格状硅酸盐 ,其中的空隙尺寸略小于1ｎｍ ,允许尺寸小于它的分子通过 ,因此它也是一种分子筛 .沸石原来是晶态 ,渗入Ｃｓ后则处于晶态和非晶态之间的中间状态 ,其中的晶态部分产生Ｘ射线布拉格…     

二维磁结构的扫描隧道显微术研究

文章介绍了近年来利用扫描隧道显微术（STM）对表面和薄膜磁结构的研究进展。二维或表面磁结构可以通过在非磁性单晶上外延磁性单原子层薄膜形成，也可以在清洁的磁性单晶表面形成。利用磁性的STM针尖可以观测到原子分辨的表面磁结构。这将增进人们从纳米尺度对磁性的理解，并推动磁电子学的发展。     

有限步扩散反应置限分形聚集

综合考虑扩散粒子浓度n、粒子扩散限制范围Δ、扩散粒子与种粒子或团簇相遇时，反应概率P及粒子扩散步数W的影响，提出了有限步扩散反应置限聚集的分形生长模型，模拟得到一系列典型的聚集生长图形，计算了相应的分形维数.结果表明，在粒子浓度n较小时，呈离散团簇状生长；而在粒子浓度较大时，则随反应概率P或粒子扩散步数W的增大，从离散团簇状生长转变为连续枝叉状生长. 关键词：     

1000分辨率扫描离子显微镜

利用二次电子成象的扫描电子显微镜的分辨率一般可以达到几十埃,但利用二次离子成象的离子探针的分辨率多年来停留在1μm. 美国《今日物理》1982年7月号报道:芝加哥大学的R.L.Setti等和休斯(Hughes)研究实验室的R.Seliger等协作,利用高亮度离子源产生的离子束激发二次电子成象,     

现有光刻技术改进后可以制造线宽为0.13μm的集成电路

现有光刻技术改进后可以制造线宽为０．１３μｍ的集成电路１９９５年美国《固态技术》２月号和３月号连续发表文章，认为现有光刻技术经过改进，可以沿用到２００４年，用来制造线宽为０．１３ｕｍ的集成电路。随着集成电路的飞速发展，１９９５年光刻技术达到的最小线宽...     

Mott对凝聚态物理学的重大贡献--纪念Mott诞辰100年

Mott N F(NevillFrancis)爵士1905年9月30日生于英国Leeds.他的父亲和母亲曾一起在剑桥大学Cavendish实验室(物理系)J.J.Thomson研究组的实验室工作过,父母亲对他成为物理学家的影响远超过中学老师.他先在Bristol的Clifton学院学习;1924-1927年在剑桥大学StJohn's学院(成立于1511年)学数学和理论物理并发表散射理论方面的论文.1928年在Fowler(Dirac的老师、著名物理学家王竹溪1935-1938年留英时的导师)的安排下从剑桥到哥本哈根Bohr的研究所等著名研究单位作访问学者、继续钻研量子力学和原子碰撞理论.     

Ge/Au,Ge/Ag双层膜和Ge-Au,Ge-Ag合金膜中非晶Ge的晶化

本文对Ge/An,Ge/Ag,双层膜和Ge-An,Ge-Ag合金膜的退火过程进行了透射电子显微镜观测,对Ge/多晶Au(或Ag)还进行了加热过程的原位观测。观测表明,多晶Au和单晶Au膜的存在使非晶Ge的晶化温度T_c的下降显著不同,可由晶界三叉点等处为非晶Ge的有利形核位置来解释,双层膜的缩聚区中由于局域优先晶化的影响,不仅T_c(=100℃)比非缩聚区中(T_c=150℃)低,而且形成直径为1—2μm的Ge大晶粒,而Ge/多晶Ag和Ge/单晶Ag膜的T_c均约为280℃,合金膜中金属含量较低时(C_Au<17at％,C_Ag<18at％),T_c高于相应的Ge/多晶Au(Ag)膜;金属含量较高时,T_c低于Ge/多晶Au(Ag)膜。这说明过饱和金属原子的存在使得非晶Ge的晶化势垒大大降低。 关键词：     

MICROSTRUCTURE AND FRACTAL FORMATION OF ANNEALED Ge-Au FILM AND Ge-Au/Au BILAYER FILMS

The as-deposited and annealed Ge-Au film and Ge-Au/Au bilayer films have been observed by transmission electron microscopy. The bilayer with a composition of Ge-5at%Au film is amorphous, while the Ge-22at%Au film is polycrystalline. Higher concentration of Au raises the structural heterogeneity and instability. Fractals can be observed in the Ge-5at%Au/Au bilayer samples annealed at 60-100℃. The difference of the fractal patterns generated from Ge-Au/An and a-Ge/Au films call be attributed to the higher heterogeneity and instability in Ge-Au/An bilayers.