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<正> 3.挡板形状的修正上述挡板形状的设计是在一些假定条件下得到的,在实际的真空室中这些条件不会被满足,因此要对设计的挡板进行修正。首先,应当对挡板的R_i值进行修正。在上述设计中,只有挡板无限靠近工件时才是正确的,即这时挡板和工件之间的距离S=0(参见图16),但实际上这不可能,因为工件是旋转的,而挡板是固定的,当S值比较大时,挡板的R_i值要用下式进行修正 相似文献
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采用丝网印刷技术,在Al2O3陶瓷基板上印刷、高温烧结内电极及绝缘层,制备出陶瓷厚膜基板,进而制备了新型厚膜电致发光显示器(TDEL)。整个器件结构为陶瓷基板/内电极/厚膜绝缘层/发光层/薄膜绝缘层/ITO透明电极。研究不同结构的无机厚膜发光器件对器件性能的影响,并对器件的亮度—电压、亮度—频率进行测量。结果显示绝缘层在无机发光器件中不是单纯的保护作用,它对器件的性能有十分重要的影响。主要是对注入电子的加速作用,从而提高发光亮度。绝缘层本身对无机厚膜发光器件的发光机理没有关系。 相似文献
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单波长监控很难精确控制宽波段上的光学特性.若采用宽光谱扫描可以在很宽的波长范围内监控薄膜特性,则控制既直观又准确.虽然宽光谱监控的思想很早就提出了,但这项技术的实用性一直不高.开发了一套宽光谱监控系统,使用线阵CCD配合计算机,可以实现光谱快速扫描.通过采用一些特殊的方法,系统可以达到较高的精度.配合改进的光学薄膜监控软件,可以满足基于宽光谱监控的自动控制要求. 相似文献
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结合光子晶体和光学多层膜理论对金属/介质一维光子晶体(MD-PBG)透明电极进行优化设计,得到了在可见区有很高的透过率,而在红外波段有非常高的反射率的设计结果,并用真空热蒸镀的方法制造了与理论设计相符合的具有良好光学和电学性能的透明电极。 相似文献
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一、棱镜分光的特点一般的分光镜都是在45°入射角的条件下使用的,其目的是想得到反射光与透射光互相垂直的两束光。为了实现这种分光,可采用两种形式:一是平板分光,一是棱镜分光,如图1所示。 相似文献
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基于表面等离子波测量薄膜光学特性的原理 ,应用激光表面等离子波共振方法 ,建立了一种简易的测量薄膜光学特性的装置 ,并对实际的SiO2 薄膜进行了测量 ,实验和理论计算表明 ,薄膜厚度测量准确度可达纳米量级。还对测量系统作了简单的误差分析 相似文献
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<正> 一、引论当蒸发一个单层透明膜的时候,每当蒸发的薄膜厚度达到λ_0/4的整数倍时,在λ_0波长处的透过率T或反射率R就会达到极值,光电监控仪的信息就会出现一个反转点。当多层膜的所有膜层都是λ_0/4型时,都会有此现象。利用光学薄膜的这一性质监控薄膜厚度的方法,人们一般称之为“极值法”。极值法监控可以分为两大类:一类是直接监控,即所有膜层都是直接地在所生产的元件上施加监控;另一类是间接监控,这时的监控是在一系列的比较片上进行。直接监控的好处在于所监控的就是 相似文献
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