铜、钴、镍同时分离工艺的研究

稀土体系三种元素同时分离的工艺最近已有发表,但非稀土方面的工作尚未见报导.对Cu、Co、Ni三种元素,通常是将Cu、Co作为一个组份与Ni分离.本工作对组成为Cu:Co:Ni=1:1:1的水相合成料液设计了两种工艺,进行了串级实验,实现了该三种元素的同时分离, 串级实验以HEH(EHP)作萃取剂,煤油为稀释剂,其它试剂均用分析纯.     

P538与P204从盐酸介质中萃取Fe（Ⅲ）

P538 P204及其混合物从盐酸溶液中萃取Fe(Ⅲ)的平衡可分别表达为: P538: Fe~(3 ) 4/j(H_2A)j(o) K′_A Fe(HA)_3·H_2A(o) 3H~ P204: Fe~(3 ) 2H_2B_2(o) K′_B FeB_3·HB(o) 3H~ P538 P204:Fe~(3 ) 2/j(H_2A)j(o) H_2B_2(o) K′_(AB) Fe(HA)_2B·HB(o) 3H~ 其表观萃取平衡常数分别为 lgK_A=4.46±0.09 lgK_B=3.44±0.08 lgK_(AB)=5.47±0.10 等摩尔的P538,P204混合物有最大的协同萃取系数。     

生长条件对KDP 晶体激光损伤阈值的影响

 研究了各种生长条件对晶体激光损伤阈值的影响, 发现提纯原料用的EDTA对晶体的光损伤阈值没有显著的影响, 溶液陈化能够降低晶体的散射强度,从而使光损伤阈值提高。多磷酸盐阻碍晶体锥面生长, 影响晶体的生长习性, 并降低晶体的激光损伤阈值。     

偏磷酸盐掺杂对KDP晶体生长与光学性能的影响

研究了KDP晶体中散射颗粒形成的一种机理。掺杂微量偏磷酸盐即可使KDP晶体中出现散射颗粒，随着掺杂浓度提高，散射颗粒密度增大。散射颗粒形成的原因在于偏磷酸根具有PO4四面体端基，在晶体生长时容易被生长晶面吸附进入晶格。偏磷酸盐掺杂影响了晶体的光学性能，晶体的光损伤阈值也明显地爱到掺杂的影响。     

Ternary surface complexes by the E(%)-pH curve method

A new method for the study of ternary surface complexes at liquid-solid interface,the E(%)-pH curve method,was proposed.Four types of E(%)-pH curves,namely,phenomenon of left-right shifts of S-shaped curve,V-shaped curve,monodirection shift curve and X-shaped curve,were discovered.Correspondingly,apart fromtype (Ⅰ) ternary surface complex -S-O-M-L and type (Ⅱ) ternary surface complex -S-L-M,a newtype of ternary surface complex -S-O-L-M was discovered.