扭转的NbTi复合线短样品交流损耗的实验研究

用“双线圈方法”测试了扭转的NbTi复合线短样品的磁滞(辶回)线.研究了磁滞损耗和(辶回)线形状与超导丝芯径(d)、纵向外磁场变化率(dH/dt)、复合线的扭距(lp)、以及剩磁与(d)和(lp)间的关系.实验结果如下: (1) 磁滞损耗与超导丝直径成正比.NbTi-Cu-CuNi三组元复合线的损耗比NbTi-cu二组元复合线的大. (2) 磁滞(辶回)线的形状和面积随纵向场dH/dt而变化.当dH/dt变大时,不仅(辶回)线的面积增加而且形状也略有变化. (3) 对于同一种复合线,(辶回)线的形状和面积随扭距而变化. (4) 超导丝直径粗、扭距短、剩磁大;直径细、扭距长、剩磁小.     

超导螺线管磁体实验研究

实验研究了超导螺线管磁体内部损耗分布以及导线位移和短路对磁体临界电流的影响.实验结果表明 (1)磁体内部线圈的损耗比外部线圈小.内部和外部线圈损耗的总和等于整个磁体的损耗. (2)导线位移和短路分别引起磁体磁滞迥线形状两种畸变,而且这两种畸变是不一样的. (3)导线位移和短路都可以降低磁体的临界电流. (4)磁体内部有短路时,可能成倍或几十倍地增加磁体的损耗.     

NbTi-Cu二组元、NbTi-Cu-CuNi三组元超导磁体交流损耗实验比较

我们用电子积分技术测量磁滞迴线的方法,分别测试了NbTi-Cu二组元和NbTi-Cu-CuNi三组元复合线磁体的交流损耗.本文报告了实验结果并把这些结果作了定性的比较.通过比较可以看出:在我们实验范围内,(1)NbTi-Cu二组元复合线磁体的损耗正比于磁体的磁场峰值和励磁速度.(2)NbTi-Cu-CuNi三组元复合线磁体的损耗正比于磁场峰值,但随励磁速度增加而下降.     

用矩阵的初等变换求商和余式

给出利用矩阵的初等变换的方法求带余除法中的商和余式,并讨论了其应用.     

二阶脉冲微分方程三点边值问题解的存在性

建立了二阶脉冲微分方程三点边值问题的比较定理,利用单调迭代方法讨论了二阶脉冲微分方程三点边值问题解的存在性.