铽掺杂氟化钙绿色荧光粉的合成及发光性能

用十六烷基三甲基溴化铵(CTAB)、正丁醇、环己烷和水组成的微乳液体系在水热环境下制备了一系列不同Tb3+掺杂浓度的CaF2:Tb3+荧光粉。通过X射线粉末衍射(XRD)、扫描电镜(SEM)和能量色散光谱仪(EDS)来表征荧光粉的晶体结构、颗粒大小、形貌及成分,利用荧光的激发光谱和发射光谱以及荧光衰减曲线来表征荧光粉的荧光性能。实验结果表明:XRD测试结果与立方相CaF2吻合;SEM图像显示CaF2:Tb3+荧光粉呈球形,且大小约为30nm;荧光粉中Tb3+的最佳掺杂物质的量浓度为6%;光致发光发射光谱表明在259nm光激发下该CaF2:Tb3+荧光粉发出强的绿光。杰出的荧光特性使CaF2:Tb3+荧光粉在荧光标记应用中成为一种有前景的绿色荧光粉。     

CaF2纳米粉体的制备与CaF2/Er3+纳粉体的荧光性能

分别采用四组分[m(CTAB):m(正丁醇):m(正庚烷):m(水)=11:11:19:10]反相微乳液体系和直接沉淀法制备了CaF2纳米粉体(简称nano-caFa2,nano-caFb2),其形貌和荧光性能经UV,IR,SEM及激发光谱表征.结果表明,nano-CaFa2形貌规则、单分散性良好,且粒径大小分布均匀....     

四氟化硅逸出法测定氟石中氟化钙

氟石主要成分为氟化钙、常含有二氧化硅、碳酸钙、铁、铅、锌、钡盐等杂质.一般采用EDTA容量法(GB5195—85)测定氟石中氟化钙量.但此法不适用于含锶的氟石中氟化钙量的测定;如氟石中含有可溶性硅酸钙,亦不适用;铅锌如不掩蔽,也使测定结果偏高.     

温度梯度法生长氟化钙晶体

用温度梯度法成功生长了直径75mm、完整、透明的氟化钙晶体,对晶体进行了TG-DTA测试分析,确定了其熔点为1413.5℃,并测试了晶体从190nm的紫外波段到40000nm的红外波段的透过率,发现从中紫外波段到红外波段氟化钙晶体的透过率已经能满足各种应用的要求,但在远紫外波段和真空紫外波段(246nm以下)氟化钙晶体的透过率需要进一步提高.     

CaF2纳米晶粒结构相变行为的尺寸依赖性（英文）

利用原位高压同步辐射X射线衍射方法,对尺寸为11 nm的CaF₂纳米晶粒进行高压结构相变和压缩特性研究。当压力为12 GPa时,观察到由萤石结构向α-PbCl₂结构转变的一次相变,该相变压力点远高于体材料,但略低于粒径更小的CaF₂纳米晶体。相比体材料,纳米尺寸的CaF₂样品的体弹模量更大,说明其更难被压缩。当压力释放至常压时,11 nm的CaF₂纳米晶粒的α-PbCl₂型亚稳相结构被保留下来,相变不可逆。分析了影响11 nm CaF₂纳米晶粒独特高压行为的原因,判定尺寸效应为主要因素,该尺寸下较高的表面能导致结构稳定性增强和体积模量增加。     

U：CaF2晶体的分凝特性与光谱性质

应用TGT法生长了直径为75mm的U：CaF2晶体，宏观上透明完整.应用公式K0=Cs/Cl计算了U在CaF2晶体中的分凝系数等于0.53.应用溶质分布一般公式Cs=K0C0(1-g)K0-1，计算U的浓度分布与测量值，数值符合说明晶体生长过程接近平衡状态.分析不同条件下生长的U: CaF2晶体的晶胞参数和吸收光谱，结果表明生长气氛决定U的价态及电荷补偿机理：无PbF2存在的条件下，U为+4价，晶体呈绿色；PbF2的加入起到氟化去氧作用，U倾向于以离子半径最接近于Ca2+的U3+存在，晶体呈红色.从晶体生长开始到结束的部位，U3+:CaF2晶体吸收光谱的峰位不变，峰强呈现与U浓度相同的增加趋势.U3+:CaF2晶体外层厚约5mm处呈黄色，含有U3+和U2+的混合价态离子，其原理是石墨坩埚的还原作用通过单质铅，使部分的U3+进一步还原成了U2+. 关键词： 铀 氟化钙晶体 分凝系数 晶胞参数     

ICP-AES法测定萤石中的主次成分

萤石通过醋酸加热使ＣaＣＯ３溶解,再经过滤、沉淀、烘干,以碳酸钠、硼砂混合熔剂熔 融,酸学好以后,采用ＩＣＰ－ＡＥＳ法测定碳酸钙、氟化钙及二氧化硅、三氧化铁。此方法精密度好,回收率在９６．０％－１０１．４％之间。     

X射线荧光光谱法测定氟石中的氟化钙和杂质的含量

本文采用Ｌi２Ｂ４Ｏ７：ＬiＢＯ２＝１２：２２作熔剂制备氟石熔融片,用波长色散Ｘ射线荧光光谱仪测定氟石中的ＣaＦ２、ＳiＯ２、Ｆe２Ｏ３、ＳＯ３、Ｐ２Ｏ５。本法测量 准确度、精密度较好,所得结果与湿法化学分析结果一致。