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991.
992.
Random thickness error is an important factor which effects the calibration accuracies of deposition rates for extreme ultraviolet (EUV) multilayer coatings fabricated by sputter deposition techniques. A least square fitting method is proposed to determine deposition rates and extract random thickness errors accurately. The validity of this method is shown by evaluating two deposition systems with control abilities of -0.1 nm and better than 0.01 nm respectively. 相似文献
993.
Wei Shyy Young-Chang Cho Amit Gupta Chien-Chou Tseng Ann Marie Sastry 《Acta Mechanica Sinica》2011,27(6):845-865
Successful modeling and/or design of engineering systems often requires one to address the impact of multiple "design variables" on the prescribed outcome.There are often multiple,competing objectives based on which we assess the outcome of optimization.Since accurate,high fidelity models are typically time consuming and computationally expensive,comprehensive evaluations can be conducted only if an efficient framework is available.Furthermore,informed decisions of the model/hardware’s overall performance rely on an adequate understanding of the global,not local,sensitivity of the individual design variables on the objectives.The surrogate-based approach,which involves approximating the objectives as continuous functions of design variables from limited data,offers a rational framework to reduce the number of important input variables,i.e.,the dimension of a design or modeling space.In this paper,we review the fundamental issues that arise in surrogate-based analysis and optimization,highlighting concepts,methods,techniques,as well as modeling implications for mechanics problems.To aid the discussions of the issues involved,we summarize recent efforts in investigating cryogenic cavitating flows,active flow control based on dielectric barrier discharge concepts,and lithium(Li)-ion batteries.It is also stressed that many multi-scale mechanics problems can naturally benefit from the surrogate approach for "scale bridging." 相似文献
994.
995.
过程能力指数(C_p)估计的关键是对总体标准差的估计。在多个子样本情形下,采用4个无偏估计量■,■_s,■_R,■_p分别估计总体标准差σ,证明了直接以此为基础的过程能力指数的估计量都是有偏的,且都有高估C_p的倾向;之后构造了C_p的4个无偏估计量;探讨了其中3个无偏估计量的估计效率;最后结合案例计算了C_p的不同估计值。 相似文献
996.
997.
998.
999.
本文报道三硼酸锂(LBO)晶体的瞬态前向相干多光子散射,实验表明LBO晶体内部同时发生x~(2)和x~(3)非线性相互作用过程,而未发现光耦合效应,测量了LBO晶体的光栅寿命上限. 相似文献
1000.