用软X射线成像观察HL-2A装置中的杂质注入过程

激光吹气是主动性研究等离子体内部杂质输运的最佳方法之一。杂质的注入用杂质粒子流表示 Г=-DVn＋Lvn 式中，D为输运系数，V为对流速度。激光吹气实验可在放电中选择不同时段注入可控量的杂质。由于杂质注入量很小且附加脉冲信号持续时间很短，等离子体电流和温度都没有明显扰动。杂质约束时间可根据中心道信号衰减时间来计算。     

金属铀中碳杂质的去除

碳是铀及铀合金中的主要杂质元素，常以高熔点碳化物夹杂的形式存在于金属中，严重影响了材料基体的连续性，同时降低了合金元素的有效合金化数量和合金元素的均一性，造成合金组织的不均匀，并影响材料的力学性能和抗腐蚀性。     

ICP-AES测定金属钯中的杂质

建立了电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES)，同时测定金属钯中Ag、Al、As、Au、Bi、Ca、Co、Cr、Cu、Fe、Ir、Mg、Mn、Mo、Ni、Pb、Pt、Rh、Ru、Sb、Si、Sn、Ti、Zn等杂质含量的方法。方法简便、快速、准确。各杂质的测定精密度在0．25％-3．0％之间，检出限在0．020-0．062(μg／g)之间，回收率在85％～100％之间。     

Short Tm^3＋-doped fiber lasers with watt-level output near 2 μm

High-power operation of diode-pumped fiber lasers at wavelength near 2 μm are demonstrated with short length of heavily Tm^3＋-doped silica glass fibers. With 7-cm long fiber, a laser at near 2 μm is obtained with the threshold of 135 mW, maximum output power of 1.09 W, and slope efficiency of 9.6% with respect to the launched power from a laser diode at 790 nm. The output stability of this fiber laser is within 5%. The dependence of the performance of fiber lasers on the operation temperature and cavity configuration parameters is also investigated.     

H2^＋-Like Impurities Confined by Spherical Quantum Dots： a Candidate for Charge Qubits

We have calculated the electron energy of the ground and lower excited states for H2^＋-like impurity states confined in finite spherical quantum dots in GaAs. Based on the characteristics of energy levels, we have proposed a scheme for realizing charge qubit composed by the the ground and the first excited states of this confined double donor system for the first time. In the proposed scheme the charge qubit is coded in terms of the located electronic states.     

皮棉杂质透射检测及成像目标增强方法

由于皮棉中白色或无色的杂质与皮棉反射特性相似，现有的光谱反射成像检测方法具有一定 的局限性.对皮棉杂质的光透射成像检测方法进行深入研究.在分析杂质及棉纤维透射特性基 础上，建立了光透射成像机理模型.研究了光透射成像系统中光源种类、光源能量、棉层厚 度及皮棉运动速度对成像目标的影响.根据棉层中透射光子的传播特性，提出利用高速CCD俘 获非漫射光子及统计滤波处理方法以增强成像目标，并分析了高速CCD曝光时间与成像目标 清晰度的量化关系.结果表明，所提出的光透射检测及成像目标增强方法，可获得清晰的目 标图像特征，检测结果与实际相符，此方法不仅为检测皮棉中各种白色或无色杂质提供一种 有效途径， 而且还可推广到红外及其他波段的成像系统中，对于微弱目标的透射成像检测 提供一种新的思路. 关键词： 皮棉杂质 透射成像 准直线光子 目标增强 统计滤波     

X射线荧光光谱法测定高纯石墨中的硫

采用X射线荧光光谱法测定出口高纯石墨中的硫，代替传统的化学分析方法。原样品粉末直接压片，标准样品采用国际焦炭样品和淀粉按比例混匀经研磨后压片，采用散射线背景校正法校正基体的影响，效果良好，简便易行。本方法的精与准确度均较好。     

靶丸与堆相关等离子体相互作用

作者扩展了计算Li，Be，B杂质靶丸和5种固态氢同位素组合H2，HD，D2，DT，T2靶丸消融率的计算方法，并完成了对堆相关等离子体的数值计算。     

HL-2A装置边缘等离子体参数测量

等离子体的杂质含量由杂质源分布以及SOL和芯部等离子体中各种杂质输运过程确定。HL-2A装置主真空室的活动马赫／雷诺协强／朗缪尔10探针阵列具有很高的时间和空间分辨能力，能够直接测量边缘等离子体参数并研究边缘扰动和相关特性。大量的实验表明：约束的改进与旋转速度的增加和边缘涨落的下降密切相关。     

Evidence of New Structure Formation in C-doped SiO2 after 4.57 MeV／u Pb Ion Irradiation

Experimental results showed that energetic ion induced phase change in a solid could be achieved not only by irradiation at high fluences but also by singe ion induced huge electronic excitations. The phase change produced in the later condition is just along individual ion latent tracks。Poecently, we have proposed a novel technique,“low energy ion implantation swift heavy ion irradiation”, for synthesizing new structures in atom mixed materials in which more attention was paid to the dense electronic excitations effect induced by theincident ions. In the present work, the technique[2} was used to investigate huge electronic excitations induced