锗硅合金脊形光波导的优化分析与设计

根据脊形光波导的基本设计要求，分析了锗硅合金脊形波导的结构参数对其光传播特性的影响，并优化设计了结构参数，其合理性得到了实验验证。     

一般球对称带电蒸发黑洞的熵

从一般球对称带电蒸发黑洞的时空线元和零曲面方程出发,得到了该黑洞的视界;利用KleinGordon方程求得波数,进而采用WenzelKramersBrillouin近似方法和薄膜brickwall模型,求出了一般球对称带电蒸发黑洞的熵,所得的熵正好与该黑洞的视界面积成正比 关键词： 黑洞 KleinGordon方程 熵 薄膜brickwall模型 视界     

Giant stress—Impedance Effect in Amorphous and High—Current—Density Electropulsing Annealed Fe73.5Cu1Nb3Si13.5B9 Ribbons

The stress-impedance (SI) effect has been observed in as-cast and high-current-density electropulsing annealed Fe73.5Cu1-Nb3Si13.5B9 ribbons.Large SI ratios of -35% and 25% have been obtained in high-current-density electropulsing annealed samples but not in as-cast samples.The SI effect changes drastically with the density of the annealing current and the longitudinally applied stress during the annealing process.The effective permeability has been shown to be responsible for the SI effect.     

黑洞的温度和熵变化是时间尺度变换的补偿效应

以史瓦西黑洞和Ｖａｉｄｙａ黑洞为例，研究了时间尺度变换的补偿效应．规范势就是仿射联络的缩并．黑洞的熵变化和Ｈａｗｋｉｎｇ温度都可看作补偿场的纯规范势 关键词：     

磷青铜表面合金镀层的辉光放电发射光谱逐层分析

应用辉光放电发射光谱分析技术，从纯金属求得难以测定的试样表层合金的溅射率，对磷青铜薄带的镀层（Ａｇ－Ｃｕ）合金进行表面逐层分析，得到镀层中银和铜含量随深度的变化曲线，同时测得了镀层的厚度。     

N、Δ重子谱计算中高组态混合效应的影响

本文在Ｎ≤６的组态空间里对Ｎ、Δ能谱重新进行了计算，着重考查高组态的混合效应对能谱的影响．结果表明：计算的收敛性很好；在采用适当形式的禁闭位的前提下，高组态的引入可以使某些能级的计算得到明显改善．     

兰州重离子加速器冷却储存环

 兰州重离子加速器(HIRFL)由用作注入器的扇聚焦回旋加速器(SFC)和分离扇回旋加速器(主加速器SSC)组成,是加速中、低能重离子束流的回旋加速器系统.     

原子称重取代千克原器

 从1883年起,保存在法国塞夫勒市国际度量衡局两个玻璃罩中的一个铂铱合金圆柱体一直被作为国际标准质量单位--千克。千克这样定义已有100多年,期间总共只将它从玻璃罩中取出过3次。迄今对米标准原器的保存仍采取不少预防性措施,但这已经成了一种传统而已。     

100～500 GPa 4.2Ni2.45Fe0.35CoW合金的冲击压缩性和物态方程

 用二级轻气炮驱动飞片技术及对称碰撞技术，测量了两相合金4.2Ni2.45Fe0.35CoW（以下简称93W）的雨贡纽线。其压力范围为100~500 GPa。实测的冲击波速度D和粒子速度u可用直线关系式D=4.008+1.277u (km/s)描述。实验结果与用混合物雨贡纽线叠加原理的计算结果符合甚好。文中还给出了由实验数据计算得到的物态方程数据。     

笔式高压测试仪

超过一万伏以上高电压的测试,往往需要较复杂的贵重仪器,本测试仪巧妙的运用笔式验电器、感应盘和可变电容盘,达到可以改变量程范围测量高电压,在被测高电压端和一绝缘金属球相联,可测量由1万伏到10万伏以上的直流高电压,误差在20％左右,该仪器结构简单,使用方便,价格仅为大型高压测试仪的十几分之一。一、工作原理本仪器是根据静电感应原理,装置见图2。所测高电压端连接的球体在高电压充电作用下带电,在其周围产生静电场,当带验电器的感应盘处于该静电场中时,因为验电器的感应盘受到较大的感应作用,很容易使笔式验电器的石英丝张开,在验电器的放大镜标尺上,从标线的移动可以确定高压球体的电位,该电位也就是所测高电压的电位。