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The stress-strain behavior and copper are studied by the molecular dynamics incipient yield surface of nanoporous single crystal (MD) method. The problem is modeled by a periodic unit cell subject to multi-axial loading. The loading induced defect evolution is explored. The incipient yield surfaces are found to be tension-compression asymmetric. For a given void volume fraction, apparent size effects in the yield surface are predicted: the smaller behaves stronger. The evolution pattern of defects (i.e., dislocation and stacking faults) is insensitive to the model size and void volume fraction. However, it is loading path dependent. Squared prismatic dislocation loops dominate the incipient yielding under hydrostatic tension while stacking-faults are the primary defects for hydrostatic compression and uniaxial tension/compression. 相似文献
92.
Effect of non-hydrostatic stress on X-ray diffraction in a diamond anvil cell (DAC) is studied. The pressure gradient in the sample chamber leads to the broadening of the diffraction peaks, which increase with the hkl index of the crystal. It is found that the difference between the determined d-spacing compressive ratio d/d0 and the real d-spacing compressive ratio dr/d0 is determined by the yield stress of the pressure transmitting media (if used) and the shear modulus of the sample. On the basis of the corrected experiment data of Mao et al. (MXB86), which was used to calibrate the most widely used ruby fluorescence scale, a new relationship of ruby fluorescence pressure scale is corrected, i.e., P = (1904/9.827)[(1+λ/λ0)9.827-1]. 相似文献
93.
应用新的应力强度因子经验公式预测了拉伸和纯弯曲载荷下疲劳扩展过程中表面裂纹形状的演化,并与Newman和Raju的经验公式以及实验结果进行了比较。结果表明:虽然对应力强度因子估算有一定差别,但两者对裂纹形状演化的预测有很好的一致性,预测结果与实验结果也比较吻合,从而表明所提出的经验公式能够用于预测疲劳扩展过程中表面裂纹形状演化。 相似文献
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95.
96.
用电子显微术研究铈对α-Ti衍射象的影响,发现铈在α-Ti中以CeO_2形式存在,其周围呈现星芒状分布的位错环。环为间隙型,其柏氏矢量为±1/3[110]。环惯习面为{110}。环移动所需临界切应力为7.8×10~(-4)G。同时分析了环的成因,并指出其对α-Ti强度的影响。 相似文献
97.
98.
理想弹塑性材料截面受弯达到部分塑性后完全卸载将存在残余应力与残余应变。本介绍了求解这种残余应力与残余应变的几何尺规作图法。 相似文献
99.
1.引言胶合连接具有机械连接方式无法比拟的优越性.在工程结构中有着广泛的前景.对各种胶合接头的强度分析,也是很有实用价值的研究课题.这里我们讨论两个不同材料和不同厚度的柱壳,用一定厚度的胶层套粘在一起,在两端扭转载荷作用下,其粘接处各层中的应力分布情况.粘接结构如图1所示.为了方便,选取柱坐标计算.我们仅考虑套接部分的应力,分为内外柱壳和胶层三部分,分别用1、2、3来标识,并设其弹性常数和泊松比分别为E_1、v_1,E_2、v_2,E_3、v_3.对于该种接头的研究,目前较多见的是采用有限元法进行拉伸应力分析,对于 相似文献
100.