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91.
对ξ>0,设X ̄6={X ̄6(t);t是由如下随机进展方程控制的Hilbert-值随机过程。本文讨论了{X ̄6;ξ>0}的大偏差性质,得到了Ventsel-Freidlin型的大偏差原理,从而将[4]的结论推广到无穷维随机场。  相似文献   
92.
具有离散参数齐次随机场的线性预测(X)   总被引:1,自引:0,他引:1  
研究在3/4平面上观察时存在遗漏观察的预测问题及在1/4平面上观察到要去预测在3/4平面上齐次随机场的值的预测问题,并建立了这两个预测问题之间的一个对应关系及求出了它们的预测值及预测误差。  相似文献   
93.
本文把Herrndorf(1985)关于α-混合序列弱收敛的一个一般的充分条件拓广于α-混合随机场(X,t∈Z^d)给出了(Xi)的部分和弱收敛于标准Brown单的一个充分条件,包含了现有的许多结果。  相似文献   
94.
B值随机场的收敛性与B空间的型   总被引:1,自引:0,他引:1  
讨论了多指标B值随机变量族{Xn,n∈Nd}在limx→∞xpsupn∈Nd|n|-1∑k≤nP(‖Xk‖≥x)=0等条件下的收敛性.当0<p<1时,得到了任意随机变量族的弱收敛性及收敛速度的一般结果;当1<p<2时,揭示了零均值独立随机变量族的弱收敛性、收敛速度与Banach空间几何性质的关系.  相似文献   
95.
本文证明了三级大偏差原理对有限相依场成立。  相似文献   
96.
近几年来,人们采用各种方法试图将1D隐马氏模型(HMM)^[2]推广到2D隐马氏模型。令人失望的是由于在建立合适的2D模型及其计算上的复杂度问题上存在困难,前面的尝试都没有得到一个真实的2DHMM.本文对于应用真实2D隐马氏模型(隐马氏网格随机场HMMRF)^[1,4]进行手写字符识别问题提出新的框架,针对文献[1]中的单点最优算法给出局部最优的译码算法。HMMRF模型是1D隐马氏模型到2D的扩展,能更好的描述字符的2D特性。HMMRF在字符识别中的应用具有两个相——学习相和译码相。在学习相和译码相中我们的最优标准是基于极大边缘后验概率的。不过,在涉及到2D模型中的计算问题时,对模型做出某些简单化的假设是必要的。本文用到的方法对于在合理的模型假设下解决手写字符识别问题呈现了很大的潜力。  相似文献   
97.
LED正向压降随温度的变化关系研究   总被引:22,自引:10,他引:12  
李炳乾  布良基  甘雄文  范广涵 《光子学报》2003,32(11):1349-1351
分析了LED正向压降随温度变化的物理机理,建立了恒流驱动下正向压降随温度的变化系数测试系统对不同材料、不同发射波长的LED电压随温度变化系数进行了系统的实验研究,利用最小二乘法对实验数据进行了线性拟合,得到了不同发射波长的AlGaInP、InGaN材料LED的电压随温度变化系数,对超高亮度LED、功率型LED器件及系统的热工参数测量积累了的重要数据.  相似文献   
98.
有机场效应晶体管和分子电子学研究进展   总被引:2,自引:0,他引:2  
近几年来,有机场效应晶体管在材料和器件方面都取得了长足的进展,成为分子电子学的一个重要方向。本文从有机半导体材料设计、有机半导体器件的构筑、单分子电子器件和纳米管在电子器件中的应用等方面,简单综述了有机场效应晶体管和分子电子学的最新研究进展。  相似文献   
99.
近年来,有机场效应晶体管(OFETs)由于在柔性器件和可穿戴电子学中的潜在应用受到了学术界和工业界的普遍关注,尤其是以聚合物半导体材料构筑的晶体管性能得到了快速的发展.如何设计合成用于OFETs的高性能聚合物半导体材料,一直是我们的追求目标.然而,分子结构对迁移率的影响仍缺少系统的比较.本文综述了近年来国内外新型聚合物材料的最新进展.我们按照材料的种类以及载流子的传输类型进行了分类,对高性能聚合物材料的发展过程、材料的设计思路以及相应的FETs性能进行了系统地归纳总结.通过研究分子及分子聚集态结构与器件性能之间的关系,希望为以后设计合成新型的高性能的聚合物材料提供有益的借鉴和指导.  相似文献   
100.
焊趾表面裂纹应力强度因子计算的基本模式法   总被引:6,自引:1,他引:6  
给出一个用来计算对接和角接焊接接头焊趾半椭圆表面裂纹在复杂应力场中,例如在残余应力场中,裂纹前缘应力强度因子(SIF)分布的工程实用计算法——基本模式法。本文先通过高自由度的三维有限元分析,给出接头和裂纹几何参数T1/T、a/T、a/c一系列组合的基本几何模型(文中给出27种)在选定的基本应力模式(本文给出8种)作用下,沿裂纹前缘的SIF分布,并形成一个数据库。利用这些基本模式解的插值和组合,可以非常迅速地求得一般几何参数情况下焊趾半随圆表面裂纹在复杂应力场中沿裂纹前缘的SIF分布。在本方法中,可以考虑角接接头板厚比T1/T对SIF分布的影响。计算过程极简单而迅速,因此特别适用于疲劳裂纹扩展行为及寿命计算问题。  相似文献   
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