OTR时间分辨测量系统的嵌入式远程控制方法

 基于光学渡越辐射原理的高能强流电子束束流参数在线测量及诊断系统，具有时间响应快、分辨率高的特点，可以测量电子束的束剖面、发射角、能量等参数。利用嵌入式方法，通过计算机控制系统对时间分辨测量系统实现实时的远程控制，实现了直线感应加速器中时间分辨测量。计算机控制系统接收光电视频信号，进行实时图像传输，得到动态图像，有效解决了在直线感应加速器中强流干扰的光学渡越辐射测量的困难。并给出了嵌入式远程控制的方法。     

影响CCD调制传递函数因素研究

从理论上以光学系统的MTF的评价方法分析了不同条件下各种因素对CCD调制传递函数的影响,模拟结果显示了各种因素影响的不同程度;同时给出了一组实际的测量结果来证明CCD的性能对其调制传递函数的影响.     

CsI∶Tl晶体对高能X光照射量的响应关系研究

在X光探伤系统中使用效率较高的CsI∶Tl晶体作为X光转换体。CsI∶Tl晶体对X光的响应关系是精密图像处理、定量测量所需的一项重要参量,理论上已经推导了CsI∶Tl晶体对X光的响应呈现线性关系,并针对性地设计了在60Co放射源上的定量测量实验,所获数据不仅充分证明了理论推导的正确性,还证明了相应系统的这种线性关系的线性度非常好。     

CsI：T1转换屏的发光灵敏度研究

转换屏在辐射照相系统中具有很重要的作用，它的效率影响整个系统的性能。本文对透明的具有较大厚度的CsI：T1转换屏的效率进行了详细的分析，推导了其效率的表达形式，并得到了实验的证明。     

电子束质心定位的数据处理方法

在强流直线感应加速器中,电子束质心位置的控制是一项重要的技术。要达到较好的控制效果,对电子束质心位置的准确测量和定位是前提。从实验和数据处理两个方面对具有时间分辨的电子束质心位置的测量和确定进行研究,指出了处理数据区域选取、处理方法等对质心位置的影响,确定的处理方法在实际处理时能够将电子束质心位置的偏移控制在2个像素内,可为束的调控提供准确参数。     

强电磁干扰环境下的信号传输研究

在LIA工作环境中，存在强大的电磁干扰，对高速分幅相机的应用极为有害。针对4MeV LIA的电磁干扰情况，通过采用光纤传输控制信号的措施，能很好地传输窄脉冲，信号延时抖动小，达到了高速信号的可靠传输要求，既解决了抗电磁干扰的要求，也满足了高速分幅相机的使用要求。     

高速分幅成像系统中图像的几何校正与配准

针对高速分幅的多幅成像系统的特殊结构，阐述了系统所获多幅图像间存在的差异及其产生的原因；在有时间分辨并需进行相互比较的情况下，应对这些图像作一系列的图像处理以得到可靠的、可用于比较的数据。针对高速分幅的多幅成像系统的图像处理主要是图像的几何校正与配准，包括图像的像元响应的平场校正、图像的几何变形校正、图像位置配准等，对此作了进一步的阐述。对序列图像作初步处理，获得了一些改善效果。     

束参数瞬态测量在复杂环境中的电磁干扰及兼容设计技术

强流电子束束参数瞬态测量系统在直线感应加速器的复杂电磁环境中会受到强电磁的干扰,主要包括:干扰特性、干扰机理、数学描述、抑制措施、防范措施等,这些干扰既针对电路又针对系统,从而对束参数瞬态测量系统测量的稳定性以及测量数据的有效性都有很大的影响。介绍时间分辨测量系统的原理,分析了瞬态脉冲干扰的成因和抑制方法,给出了束参数测量系统的实验布局和特点,进一步探讨电子器件电性能受瞬态脉冲干扰后的抑制措施,其目的是为了达到减少或消除干扰,破坏干扰信号的传输条件,从而提高整个系统的抗干扰能力及可靠性。通过采用光纤传输控制信号可以很好地传输窄脉冲,减少信号延时抖动,以达到高速信号的可靠稳定传输;利用紧凑嵌入式方法,提高了抗电磁干扰的能力,可以更好保护测量系统电子器件,提高整个系统的抗干扰能力。     

三种高密度强流束亮度测量技术

利用已经建成的4 MeV LIA注入器,结合时间分辨测量系统研究了三种测量技术:发射度测量法、无场准直器和磁场准直器测量法。介绍了强流束亮度定义和典型方法理论分析及测量技术的物理概念,提出了用于猝发多脉冲电子束发射度测量装置的设计与调试,通过对时间分辨测量系统的分幅相机记录的光强度分布信息处理,得到电子束束斑均方根半径和发射角,分析某一时刻数据,即可得到电子束某一时刻发射度,从而获得多脉冲电子束时间分辨发射度。在4 MeV LIA注入器上对多脉冲电子束流的发射度进行测量,得到电子束归一化均方根发射度约为114 mmmrad、双脉冲456 mmmrad的归一化发射度。最后结合电子束的高斯分布初步分析并给出均方根发射度、实测发射度和边发射度的关系。