转换屏背底散射对图像对比度的影响研究

 分析了高能X光照相中转换屏的背底散射（对可见光的散射）对图像对比度的影响，建立了相应散射影响的计算模型；同时还通过计算模拟给出了相应的结果，理论和实验研究表明对转换屏背底的处理是极为重要的。     

辐射照相系统中转换屏的分辨率研究

 在高能X光辐射照相系统中，通常使用闪烁体材料的转换屏将X光转换为可见光进行探测。建立了转换屏空间分辨率的计算模型，模拟了转换屏的空间分辨率随屏的厚度、材料及X光子能量的变化关系，为系统的设计提供了参数。     

影响CCD调制传递函数的因素

针对慢速扫描的帧转移CCD器件，采用类似传统的评价成像系统质量的方法对其MTF进行计算，由于器件本身性能及系统电路等方面性能的原因，会导致CCD输出信号中的成分比较复杂，使系统的MTF的计算相对复杂化；在计算中利用了CCD器件的一些实际性能参数，得到了与实际应用系统一致的结论。主要考虑CCD器件的量子效率、暗电流及其噪声、信号本身的幅度调制度、光照度A等因素的影响。因此，CCD输出信号式中，     

散射环境下钨的质量吸收系数测量

在30 MeV的射频加速器上进行的原理性实验及在60Co放射源上的定量测量实验已证明了理论推导的CsI∶T1晶体对X光响应具有线性的结论.而在实际应用中,由于各种散射因素的影响可能使这种线性关系变坏而给处理带来困难；利用钨台阶在12 MeV LIA的实验环境下完成了CsI∶T1晶体对X光响应的研究,对一些散射因素进行了分析,说明在一定的条件下仍然能够获得较好的线性响应,同时对钨在相应条件下的质量吸收系数进行了测量,结果为0.806～0.823,误差约在2.0％以内.     

影响CCD调制传递函数因素研究

从理论上以光学系统的MTF的评价方法分析了不同条件下各种因素对CCD调制传递函数的影响,模拟结果显示了各种因素影响的不同程度;同时给出了一组实际的测量结果来证明CCD的性能对其调制传递函数的影响.     

X光面光源的尺寸对系统线扩展函数的影响

 在辐射照相系统中，X光源的尺寸是一个影响图像清晰度的重要参数。尤其是在使用高能的X光进行辐射照相时，特殊的照相条件使X光源面积对于系统空间分辨率的影响更为突出。针对这一现象，基于台阶照相法测量系统线扩展函数的理论建立了计算模型，模拟了面光源尺寸对于系统空间分辨率的影响，并说明了提高分辨率应采取的措施。     

CsI：T1转换屏的发光灵敏度研究

转换屏在辐射照相系统中具有很重要的作用，它的效率影响整个系统的性能。本文对透明的具有较大厚度的CsI：T1转换屏的效率进行了详细的分析，推导了其效率的表达形式，并得到了实验的证明。     

散射环境下钨的质量吸收系数测量

CsI：T1晶体在辐射成像系统中的作用是非常重要的，利用CCD作为图像记录的X光探测系统的响应性能与其有密切的关系。为了得到响应关系的大致形式，在30MeV的射频加速器上，曾经用厚度为5，10，20mm的CsI：T1晶体作过研究，对于每一种厚度的CsI：T1晶体，响应还是线性的，但是彼此之间响应度的相对关系还是存在较大差异；由于^60Co放射源的特点，又专门设计了用^60Co放射源作为高能γ光子源来对系统的响应特性作定量研究，并且得到了在几乎没有散射影响下的响应关系，实验结果严格符合理论推导结论，