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81.
原子吸收和原子荧光光谱分析 总被引:1,自引:0,他引:1
本文是《分析试验室》期刊定期评述中关于原子吸收光谱法 ( AAS)及原子荧光光谱法 ( AFS)分析的第 8篇综述文章。文中对 1 999年~ 2 0 0 0年 1 1月期间我国在 AAS/AFS领域所取得的主要进展进行评述。内容包括 :概述、仪器装置与数据处理、火焰原子吸收光谱法、电热原子吸收光谱法、化学蒸气发生技术以及原子荧光光谱法。共收集文献 2 96篇。 相似文献
82.
介绍了一种临界电流测试系统,用于研究钇钡铜氧(YBCO)高温超导带材在不同温度以及不同磁场强度环境下的临界电流特性,该系统基于四引线法,其主要包括一孔径70mm、最高磁场16T的背景磁体以及低温杜瓦;Keithley 2182A纳伏表,PCI-9114数据采集卡搭建的数据采集系统,以及Lakeshore 340温控仪的温度控制系统。利用该系统进行YBCO带材分别处于平行场及垂直场时不同温度及磁场强度环境下的临界电流测试,得到了YBCO带材在低温环境下的临界电流特性,为YBCO带材的应用及研究提供依据。 相似文献
83.
磷化铟(InP)材料具有禁带宽度大、电子迁移率高、耐高温、抗辐照等优点,是制备航天器电子器件的优良材料.近地轨道内的质子和α粒子对近地卫星威胁巨大,其在InP电子器件中产生的位移损失效应是导致InP电子器件电学性能下降的主要因素.本文使用蒙特卡罗软件Geant4研究近地轨道的质子与α粒子分别经过150μm二氧化硅和2.54 mm铝层屏蔽后,在500/1000/5000μm InP材料中产生的非电离能量损失(non-ionizing energy loss, NIEL)、平均非电离损伤能随深度分布以及年总非电离损伤能.研究发现:低能质子射程短且较易发生非电离反应,入射粒子能谱中低能粒子占比越大,材料厚度越小, NIEL值越大;计算质子和α粒子年总非电离损伤能,质子的年总非电离损伤能占比达98%,表明质子是近地轨道内产生位移损伤的主要因素;α粒子年总非电离损伤能占比小,但其在InP中的NIEL约为质子的2—10倍,应关注α粒子在InP中产生的单粒子位移损伤效应.本文计算为InP材料在空间辐射环境的应用提供了参考依据. 相似文献
84.
以聚乙二醇(PEG)为软模板,SeO2为硒源,通过水热法制备了立方结构的树枝状NiSe2微米粒子。用X-射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)和高分辨透射电子显微镜(HRTEM)等手段对样品的形貌和结构进行了表征。结果表明,PEG的存在、溶液的pH值以及反应时间等因素对产物的形貌和结构有较大影响。在PEG的辅助下,NiSe2微米粒子能形成规整的树枝状结构;在无PEG的条件下,则形成了正八面体结构的微米粒子。并提出了树枝状NiSe2微米粒子的形成机理。 相似文献
85.
86.
抑制电导检测-离子色谱法测定面粉中的溴酸盐 总被引:4,自引:1,他引:3
采用离子色谱-抑制电导检测方法分离测定面粉中的溴酸盐.采用IonPacAS19阴离子色谱柱(Dionex),以20.0mmol/LKOH溶液作流动相,方法BrO3^-检出限为0.015mg/L(进样体积50μL,S/N=3),标准曲线的线性范围为0.04~2.0mg/L(r=0.999 9),相对标准偏差为2.5%(n=8).用本方法测定面粉样品,加标回收率在82%~105%之间.实验表明,本方法准确、灵敏、重复性好,结果令人满意. 相似文献
87.
88.
为超导材料临界电流与应力-应变测试提供稳定可靠的测试系统,使用实验室现有的超导材料拉伸装置SUPUM (Superconductor Under Mechanical-Stress)、1.2 kA直流电源、Keithley 2182纳伏表等设备,开发了一套基于Labview的超导材料轴向应力-应变与临界性能测试平台。上位机测试软件采用多线程、动态调用等方法,对伺服电机运动控制、直流电源升流控制、实时数据采集三个模块进行灵活调用,方便了实验操作。实验表明,此系统数据采集与控制过程稳定可靠,实时性好,满足超导材料轴向应力-应变与临界电流测试要求。 相似文献
89.
2009年全国数学联赛加试试题第2题:
该题题型新颖,内涵丰富,蕴含着高等数学背景.本文给出该不等式的高等数学背景的探究、简证及推广. 相似文献
90.
利用对偶树复数小波与全变差模型实现图像去噪的新方法 总被引:3,自引:0,他引:3
本文首先研究了一种三层小波系数相关萎缩的概念与性质,利用对偶树复数小波与全变差模型相结合,提出了一种新的图像去噪方法。实验结果表明,与现有的图像去噪方法相比,本文方法无论是在视觉还是在均方误差等方面均有更好的效果。 相似文献