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61.
6H-SiC pn结紫外光探测器的模拟与分析   总被引:3,自引:0,他引:3       下载免费PDF全文
周拥华  张义门  张玉明  孟祥志 《物理学报》2004,53(11):3710-3715
运用器件模拟软件模拟了pn结6H-SiC紫外光探测器的光响应灵敏度特性.讨论了不同掺杂浓度、不同器件结深对响应灵敏度的影响.对于p+n结器件,当受光面为p+层,且厚度约为0.2μm、浓度约为9×10.18cm-3、n层浓度约为1×1 0.16cm-3时,器件有较大的响应灵敏度,R=167.2mA/W;当受光面为n+ 层 ,且厚度约为0.2μm、浓度约为9×10.18cm-3、p层浓度约为1×10.16cm-3时,器件有较大的响应灵敏度,R=183.5mA/W.通过比较可知,模型能较好地反应实际情况,与实验数据符合较好. 关键词: 6H-SiC 紫外光探测 吸收系数 光响应灵敏度  相似文献   
62.
6H-SiC肖特基源漏MOSFET的模拟仿真研究   总被引:1,自引:1,他引:0       下载免费PDF全文
王源  张义门  张玉明  汤晓燕 《物理学报》2003,52(10):2553-2557
给出了一种新型SiC MOSFET——6H-SiC肖特基源漏MOSFET.这种器件结构制备工艺简单,避 免了长期困扰常规SiC MOSFET的离子注入工艺难度大、退火温度高、晶格损伤大,注入激活 率低等问题.分析了该器件的电流输运机理,并通过MEDICI模拟,给出了SiC肖特基源漏MOSF ET伏安特性以及其和金属功函数、栅氧化层厚度和栅长关系. 关键词: 碳化硅 肖特基接触 MOSFET 势垒高度  相似文献   
63.
张玉明  张义门  崔杰  罗晋生 《物理学报》1997,46(11):2215-2222
采用Monte Carlo方法模拟了3C-SiC材料中电子的静态输运特性.在细致分析材料的能带结构和主要散射机构,建立了适于统计模拟的物理模型的基础上,采用自洽的SPMC方法进行模拟,得出了电子迁移率随温度、电子平均漂移速度随电场的变化规律,及电子的能量和动量弛豫时间随温度和电场的变化规律.所得结果与实验符合较好. 关键词:  相似文献   
64.
The consecutive reaction of bis [2, 2, 2-trifluoroethyl] phosphiteand its application to the one-pot synthesis of 3-cyano-β, γ-un-saturated nitriles with exclusive or predominant E-selectivity(E: Z=100--85:0--15) and excellent yields (94%--99%) aredescribed.  相似文献   
65.
SiC功率金属-半导体场效应管的陷阱效应模型   总被引:1,自引:0,他引:1       下载免费PDF全文
针对4H-SiC射频大功率MESFET,建立了一个解析的陷阱效应模型,该模型采用简化参数描述方法,并结合自热效应分析,从理论上完善了SiC MESFET大信号直流I-V特性的解析模型,且避免了数值方法模拟陷阱效应的巨大计算量. 关键词: 碳化硅 陷阱效应 金属-半导体场效应晶体管 深能级陷阱 界面态  相似文献   
66.
The tunneling field-effect transistor(TFET) is a potential candidate for the post-CMOS era.In this paper,a threshold voltage model is developed for this new kind of device.First,two-dimensional(2D) models are used to describe the distributions of potential and electric field in the channel and two depletion regions.Then based on the physical definition of threshold voltage for the nanoscale TFET,the threshold voltage model is developed.The accuracy of the proposed model is verified by comparing the calculated results with the 2D device simulation data.It has been demonstrated that the effects of varying the device parameters can easily be investigated using the model presented in this paper.This threshold voltage model provides a valuable reference to TFET device design,simulation,and fabrication.  相似文献   
67.
In this paper, 0.15-μm gate-length In0.52Al0.48As/In0.53Ga0.47As InP-based high electron mobility transistors (HEMTs) each with a gate-width of 2×50 μm are designed and fabricated. Their excellent DC and RF characterizations are demonstrated. Their full channel currents and extrinsic maximum transconductance (gm,max) values are measured to be 681 mA/mm and 952 mS/mm, respectively. The off-state gate-to-drain breakdown voltage (BVGD) defined at a gate current of-1 mA/mm is 2.85 V. Additionally, a current-gain cut-off frequency (fT) of 164 GHz and a maximum oscillation frequency (fmax) of 390 GHz are successfully obtained; moreover, the fmax of our device is one of the highest values in the reported 0.15-μm gate-length lattice-matched InP-based HEMTs operating in a millimeter wave frequency range. The high gm,max, BVGD, fmax, and channel current collectively make this device a good candidate for high frequency power applications.  相似文献   
68.
王斌  张鹤鸣  胡辉勇  张玉明  舒斌  周春宇  李妤晨  吕懿 《物理学报》2013,62(5):57103-057103
积累区MOS电容线性度高且不受频率限制, 具有反型区MOS电容不可比拟的优势. 本文在研究应变Si NMOS电容C-V特性中台阶效应形成机理的基础上, 通过求解电荷分布, 建立了应变Si/SiGe NMOS积累区电容模型, 并与实验结果进行了对比, 验证了模型的正确性. 最后, 基于该模型, 研究了锗组分、应变层厚度、掺杂浓度等参数对台阶效应的影响, 为应变Si器件的制造提供了重要的指导作用. 本模型已成功用于硅基应变器件模型参数提取软件中, 为器件仿真奠定了理论基础. 关键词: 应变Si NMOS 积累区电容 台阶效应 电荷分布  相似文献   
69.
雷天民  吴胜宝  张玉明  郭辉  陈德林  张志勇 《物理学报》2014,63(6):67301-067301
为了研究稀土掺杂对单层MoS2电子结构的影响,文章基于密度泛函理论框架下的第一性原理,采用平面波赝势方法分别计算了本征及La,Ce,Nd掺杂单层MoS2的晶格参数、能带结构、态密度和差分电荷密度.计算发现,稀土掺杂所引起的晶格畸变与杂质原子的共价半径大小有关,La杂质附近的键长变化最大,Nd杂质附近的键长变化最小.能带结构分析表明,La掺杂可以在MoS2的禁带中引入3个能级,Ce掺杂可以形成6个新能级,Nd掺杂可以形成4个能级,并对杂质能级属性进行了初步分析.差分电荷密度分布显示,稀土掺杂可以使单层MoS2中的电子分布发生改变,尤其是f电子的存在会使差分电荷密度呈现出反差极大的物理图象.  相似文献   
70.
根据换热器结构形式建立了用于计算管板变形的力学模型,参考ASME Ⅷ 1计算管板的有效弹性常数,并将外筒和换热管束分别等效为会因温度和压力载荷产生轴向变形的弹簧和弹性基础.应用Ritz法建立了管板挠度的解析解,将该解析解与三个不同规模换热器的有限元分析结果进行对比.结果表明,建立的解析解与有限元分析结果吻合良好,验证了推导的管板变形解析解的正确性.研究结果对固定管板式换热器的设计有较大的指导意义.  相似文献   
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