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锥束射线三维大视场工业CT成像方法研究 总被引:3,自引:0,他引:3
基于FDK重建算法和圆轨道锥束扫描的三维ICT(industrial computed tomography)因算法的简洁性和工程实现的可行性已成为目前主要的3D-ICT成像技术。由于受探测器长度的限制,该技术的扫描视场小,所以可检构件尺寸受到限制。为解决较大尺寸构件3D-ICT的检测问题,讨论了一种仅需旋转检台偏置的大视场3D-ICT成像方法,推导了基于FDK原理的滤波反投影(filter back-projection,FBP)重建算法。计算机模拟和实验结果证明了该技术的正确性。分析表明,其水平方向的有效扫描视野比基于FDK的圆轨道锥束扫描三维CT提高了80%以上。 相似文献
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射线面阵探测器成像系统校正研究 总被引:1,自引:0,他引:1
基于线性、移不变理论,对射线面阵探测器成像的特性和系统成像所呈现出亮度不均匀的原因进行分析研究.通过分析线性系统成立的假设条件,给出了对实际成像中各像元点阵的偏置、灵敏度进行逐点校正的公式.在实验室,对基于PaxScan2520 面阵探测器的成像系统进行成像校正研究,取得了满意的效果,噪声得到有效的抑制,成像的不一致性得到改善.当检测较厚工件或工件厚度变化较大时,系统成像超出其线性范围,给出了二次校正的方法和公式,也取得了满意的效果. 相似文献
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X射线成像的一种点扩展函数模型 总被引:3,自引:3,他引:0
X射线成像系统可以通过其点扩展函数来表行,其点扩展函数分为一次射线点扩展函数和散射点扩展函数两部分。在分析点扩展函数各个影响因素的基础上,建立了以物体厚度、物体到探测器距离以及成像几何设置为参量的解析模型。利用该模型推导出了特定入射射线能谱和射线源到探测器距离情况下散射比的计算公式。它是以物体厚度和物体到探测器距离为变量的函数。在利用实验数据对模型参量进行最优估计的基础上,利用散射比实验验证了模型的正确性。为散射和几何不清晰度的消除提供了一种实用的模型依据。 相似文献
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基于重投影的多项式拟合校正射束硬化 总被引:4,自引:0,他引:4
在X射线工业CT(ICT)中,射束硬化会导致重建的图像出现伪影,甚至产生变形。为了消除这种影响,提出了一种基于重投影的多项式拟合校正射束硬化的方法。该方法对原始CT图像进行阈值分割二值化,将物体目标区域的像素值设为1;重投影此二值图像以获取X射线贯穿物体的长度集合;利用多项式拟合此长度集合与多色投影间的关系来建立射束硬化校正模型,用该模型对多色投影进行校正。与传统的多项式拟合校正方法相比,该方法不需要楔状模体(用于测量不同厚度下的衰减值,以此来建立射束硬化校正模型)。研究表明,该方法能有效地抑制射束硬化的影响。 相似文献
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基于平板探测器的2D-CT成像技术的研究 总被引:1,自引:0,他引:1
大面积非晶硅平板探测器(flat panel detector-FPD)在透射射线成像领域得到越来越多的应用。基于FPD的圆轨道FDK型三维计算机层析成像技术(Computed Tomography,3D-CT)检测速度快,但成像质量不及2D-CT。为发挥3D-CT速度优势,同时提高系统对物体感兴趣区域CT成像的性能,研究了一种基于FPD的、配合3D-CT功能的高像质2D-CT成像技术;提出了一种集噪声抑制、散射校正和高频细节增强于一体的2D-CT投影预处理方法,并完成了基于FPD的2D/3D-CT集成原型系统的研制。系统性能测试结果表明,基于FPD的2D-CT技术成像空间分辨率达3lp/mm,密度分辨率达5‰。 相似文献
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扇束X射线ICT偏置扫描方式及其重构算法 总被引:5,自引:2,他引:3
对于较大尺寸构件ICT检测,为了避免采用费时的二代扫描,讨论了一种基于三代扫描的偏置扫描方式,推导了它的FBP重构算法。计算机模拟和实验结果证明了该算法的正确性。分析表明,在射线有效扇束角和探测器长度、位置不变的情况下,它的有效扫描视野在三代扫描的1.9倍以上。 相似文献
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