水中多环芳烃的高速液相色谱分析

在目前已发现的450多种致癌物质中有200多种为多环芳烃(PAH)。水中多环芳烃的分析对于水的监测和治理十分重要,在这方面国外已进行了很多研究。我国对PAH的分析多以3,4苯并芘为代表,大多采用纸层荧光法。这种方法设备虽简单,但能分离的组分单一,操作费时。高速液相色谱法具有分离能力强,操作简单以及与荧光光度计联用时的高灵敏度、高     

火焰原子吸收光谱法分析香菇中微量元素的形态

对香菇中Cu、Zn、Fe、Mn、Ca和Mg进行了微量元素的含量和形态分析.分别用0.45μm滤膜,D101型大孔吸附树脂,将香菇水煎掖中Cu、Zn、Fe、Mn、Ca和Mg分为悬浮态和可溶态、有机态和无机态,用HCl和CCl4处理煎渣,得煎渣无机态和有机态,火焰原子吸收光谱法测定香菇各形态含量.方法的回收率在95.0%～101.7%范围内,相对标准偏差均在2%以下.     

二氧化碳与环氧化物的调节共聚合反应速率

在二氧化碳和环氧化物共聚时加入特定的调节剂，生成有规定的分子量和端基官能度的产物．这种调节聚合的本质是调节剂所含活泼氢与活性中心之间的链转移反应．根据建议的历程，提出了调节共聚速率方程，计算结果与实验一致．     

多柱色谱技术进展

在色谱分析过程中，利用串联、并联或串并联结合的方式将多根色谱柱组合起来，可以实现高通量和高分辨的分离效果。相比于传统单柱色谱技术，多柱技术很好地满足了批量样品分析和复杂生物样品分离分析的需求，因此引起了广泛关注。该文对多柱技术在多维分离、芯片色谱、毛细管电泳、固定相筛选以及串联色谱等领域的应用进行了综述，并对其发展前景进行了展望。     

电感耦合等离子体发射光谱测定稀土铝合金中稀土和非稀土元素

本工作用 ICP-AES 法测定稀土-6063变形铝合金中 La、Ce、Pr、Nd、Sm、Gd、Fe、Mg、Ti、Zn,Cu 和 Mn,本方法不用化学分离,可一次同时测定这些元素,并做了 ICP光源参数、基体量变化、酸度(HCl)变化、稀土总量变化、共存元素 Fe 和 Mg 量的变化对被测元素的影响。本方法速度快、准确度高(除 Cu 稍差)。回收率91.0～110.0%,相对标准偏差±1.4～8.0%。     

三甲基铝双聚体和单体的气相离解-缔合平衡模拟计算

在B3LYP/6-31l++G(3df, 2pd)水平上全优化得到了三甲基铝双聚体(d-TMA)的C2h和C2v两种构型和单体的C3h结构. 着重用完全基组方法CBS-4M模拟计算了TMA气相平衡中各物种在1.01×105 Pa和300～550 K范围内的热力学函数值. 通过考察d-TMA三线态构型和异裂反应对系统熵值的影响, 准确计算了d-TMA离解反应的ΔrHm和ΔrSm. 以lnKd对1/T作图, 两者之间具有很好的线性关系: lnKd=−9624.4363/T+20.2303, 相关系数R2=1.0000, 与前人实验结果相当一致. 在此基础上提出了新的d-TMA气相离解-缔合反应机理.     

稀土五磷酸盐晶体的组成分析

稀土五磷酸盐晶体作为激光或发光材料正在引起人们的注意.其中五磷酸钕和五磷酸镨均是化学计量比激光材料,五磷酸铈是一种迄今为止余辉最短的闪烁体材料,五磷酸铽能发出较强的绿色萤光.但至今对稀土五磷酸盐晶体的组成分析却无详细报导.Ln P_5O_(14)晶体的化学稳定性好,在许多溶剂中不溶解,一般认为仅能用强碱熔融,而在用碱熔融时     

薄层扫描法测定水中痕量阴离子表面活性剂

本文报告了一个可以鉴定水中痕量阴离子表面活性剂的薄层扫描法。应用大孔树脂GDX-502作为吸附剂除去干扰离子,回收率85％。乙基紫染料阳离子与阴离子表面活性剂形成紫色缔合物,用甲苯一次萃取,在硅胶G板上,应用日本岛津CS-930双波长薄层扫描仪扫描定量。提供了一个大孔树脂处理-溶剂萃取缔合物-薄层扫描分析水样中阴离子表面活性剂的方法。     

煤超临界抽提产物中的地球化学标记物

用硅胶柱色谱分离结合色—质谱分析,对五种煤的超临界抽提(SCG)物中正己烷冲出馏分的组成进行了检测。结果表明,C_(13)—C_(35)正构烷烃是其主要成份,此外还含有姥鲛烷、植烷、环烷烃等地球化学标记物。环烷烃中以五环三萜烷的C_(27)、C_(29)—C_(30)的藿烷类(17αH,21βH)、莫烷类(17βH,21αH)为主,并有一定量的C_(27)、C_(29)、C_(30)藿烯及生物藿烷,三环二萜烷量很少。试验还表明,煤阶和操作条件对上述组分的含量及分布特征(如莫烷类/藿烷类,C_(27)藿烯量等)有一定影响。所有样品中甾烷的含量都很低。     

含鎢礦石中錫的極譜法測定

本文述說在5±0.5N之鹽酸底液中錫有穩定正常的還原波,而鎢酸在此酸度絕大部分形成沉澱。在溶液中未完全沉澱之痕量鎢所產生的還原波在錫波後0.17伏恃處,僅使錫波波尾微陡斜,而不影響錫之波高测量。並且此陡形可因延長沉澱放置時間而消除。因此可不用事先分離鎢而直接测定合鎢礦石中錫之含量。