关于超外差式接收机(待续)

超外差式接收机被广泛地应用在現代的接收设备中。超外差式接收机是在高频直接放大式接收机的基础上发展起来的,它們的组成部份有些是相同的。在本文中,將先介紹超外差接收机是怎样發展的和人們对于接收机提出那些要求;接着說明高频直接放大式接收机的原     

热处理对氢气放电实验用靶的影响

对本底靶进行热处理后用TiT源重新开展打靶实验,未知谱线消失,证明未知谱线不是由靶中杂质造成的。将同种材料制成的两块本底靶分别进行热处理和不做任何处理,置于氢气放电源中进行照射生成源照靶,用TiT源打这两块源照靶发现照射前经热处理的靶产生的4条未知谱线较强,证明热处理能够增强靶吸附未知粒子的能力。     

杂质元素特征X射线对氢气放电源打靶新谱线的影响

 在氢气放电源打靶的实验中,测到了系列能量恒定不变的低能X射线新谱线,这些新谱线的能量分别为(1.70±0.10) keV, (2.25±0.07) keV,(2.56±0.08) keV,(3.25±0.10) keV和（3.62±0.11） keV,与Si,Ta,S,Cl,K和Ca等元素的特征X射线能量相近,但靶中所含的杂质或来自放电室的杂质元素可能会产生这些能量的X射线谱峰,证实新谱线是否由这些元素的特征X射线干扰所致显得尤为重要。分析了本实验系统中各种杂质的可能来源,论证了放电室端杂质对新谱线的影响,及靶材料中体杂质和面杂质对新谱线的影响;用X射线光电子能谱仪对靶做了表面分析。研究结果表明：杂质元素的特征X射线不会对氢气放电源打靶产生的新谱线有影响。这些新谱线的性质有待进一步的实验研究。     

氢气放电源打靶的较完整新谱系实验测量

 为了能够实现明确和清晰地同时测出氢气放电源打靶的较完整新谱系，使用氢气放电中的电子和X射线等直接打靶，在衍射角和测量角均为45°时，测量氢气放电源打靶的较完整新谱系。实验同时测到了3组6条氢气放电源打靶的新谱系，它们是：（2.25±0.07）和（2.56±0.08） keV；（3.25±0.10）和（3.62±0.11） keV；（4.42±0.13）和（4.79±0.15） keV。这6条新谱线表征了未知粒子的能级特性，是未知粒子存在的标志。未知粒子在靶中能储存一年以上，测得的未知粒子能级谱线能量为keV量级，氢气放电源中粒子为已知粒子，据此可以认为未知粒子是一种新原子态氢原子。     

氢原子的X射线新谱系的实验观测及其解释

 引出氢（氘）气放电产生的射线和粒子流打在非晶聚氘乙烯C₂D₄和有机玻璃C₅H₈O₂等靶上,测得其散射谱上有多条尖锐的X谱线,其中除一条外都是（不经散射的）原始谱中没有的。经反复证认,这些谱线不是靶中元素（如C或O）和可能包含的杂质元素的特征X射线,也不是原始谱中X射线的衍射线,更不可能是低能电子的轫致辐射经吸收后形成的峰,认为该谱线很可能是前所未知的一类新的原子态的X射线新谱系的一部分。用曾提出的一个“小氢原子”理论模型予以解释,即认为氢（氘）气放电中产生了“小氢原子”,其（在基态）电子轨道半径约为普通氢原子的玻尔半径的1/274,该小氢原子能级之间的跃迁能够很好地解释所测到的X射线新谱系。     

气体放电中的中子、γ和X射线

用气体放电方法研究含氘金属异常现象,测到了强度为10~4n/s的中子。中子的产生人为可控,持续稳定,重复性100％。用NE213测出了能量在1.00MeV—3.00MeV之间的中子能谱。测出了平均能量为(27.6±2.1)KeV的反常X射线。测到了能量约470keV的反常γ射线。     

常温核聚变现象的研究和进展

本文简要介绍中物院核物理与化学研究所在常核聚变研究方面取得的主要结果，使用气全放电方法、电解法和升降温度压力循环法研究了含氘金属中的异常现象。在气体放电方法中测到了１０＾４ｎ／ｓ的中子和２７ｋｅＶ单能Ｘ射线，重复性为１００％。     

固体径迹火花自动计数器效率标定

采用固体径迹法并结合火花自动计数器读径迹数的方式测量弱中子场中的中子引发铀产生的裂变碎片，以此得到中子引发铀产生的裂变率。要获得绝对裂变率，需标定固体径迹火花自动计数器效率。     

打靶谱测量中的表面效应

通过电子、X射线混合源和X射线源打源照镁靶谱的对比实验,论证了放射源打靶谱的测量中存在着表面效应。它除和电子打靶有关外,也反映了靶表面的一些特性。为此,做了放电源打源照镁靶谱随存放时间变化的实验。实验结果表明:源照镁靶表面可能存在一层阻挡层,阻止新态氢原子向外扩散。根据打磨和未打磨源照镁靶打靶谱的对比实验,推测靶表面的阻挡层可能是一层新态氢原子富集层。为此,又做了镁铼靶打靶谱的对比实验,照射打磨和未打磨镁靶打靶谱的对比实验,根据实验结果,估计新态氢原子富集层可能是一层以氧为核的氢原子和新态氢原子团。由此推测阻挡层是一层以氧为核的新态氢原子团组成的新态氢原子富集层。这种新态氢原子富集层产生了打靶谱测量中的表面效应。     

铝材料高能反射中子测量与计算

用~6~种阈探测器测得有无铝反射体时的绝对活化反应率, 获得了铝材料的高能中子反射率, 其值基本在1—1.14之间, 变化趋势比较一致. 结果表明: 高能反射中子场在小角度测量点比较弱, 而在大角度测量点, 尤其在120°点比较强. 高能中子反射率随阈能的增大而变小. 中子反射率的实验不确定度为3.4%—4.2%. 模拟计算结果与实验结果在大多数点基本相符.