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1引言许多科学和工程计算问题都可以归结为无界区域上的偏微分方程边值问题.而求解椭圆方程边值问题的常用技术是有限元方法,可是对于无界区域,在用有限元方法求解时,往往遇到困难.最简单的办法显然是直接略去区域的无界部分求解,但这样做或者导致过低的计算精度,或者要付出很高的计算代价.边界归化,即将求解偏微分方程边值问题转化为边界积分方程,是求解某些无界区域问题的强有力的手段.自70年代以来,有限元和 相似文献
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3d过渡金属碳化物相稳定性和化学键的第一性原理研究 总被引:3,自引:2,他引:3
采用第一性原理方法对具有NaCl相、CsCl相以及WC相结构的3d过渡金属碳化物MC(M=Sc~Ni)的电子结构进行了详细研究,研究结果表明,对于同一类型相结构的Mc化合物具有相似的能带结构,均可用刚性带模型来描述,并由此得到了三种相统一的态密度(1DOS)分布.基于该DOS分布,通过分析费米能级附近DOS的大小并结合体系的结合能,对三种相的稳定性进行了探讨.结果表明,CsCl相构型最不稳定;对于3d电子数较少的MC化合物(M=Sc~V),以NaCl相为稳定构型;对于M=Cr~Ni的MC化合物,则以WC相为稳定相.此外,通过采用双子晶格模型,进一步从化学键角度对影响三种相稳定性的内在原因进行了探讨. 相似文献
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提出了气相色谱-质谱法测定有机建筑粘合剂中3种苯胺类化合物含量的方法。样品中3种苯胺类化合物用乙醇超声提取,离心分离后,所得提取液过0.22μm有机滤膜,滤液供气相色谱-质谱分析。在气相色谱分离中用DB-WAX毛细管色谱柱(30m×0.25mm,0.25μm)为固定相,在质谱分析中采用全扫描和选择离子监测模式。3种苯胺类化合物在一定的质量浓度范围内与其峰面积呈线性关系,方法的检出限(3S/N)在0.3~0.6mg·kg-1之间。在3个浓度水平上做回收试验,加标回收率在91.1%~97.3%之间,相对标准偏差(n=6)在1.7%~4.0%之间。 相似文献
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针对Mod.9Cr-1Mo铁素体钢锐缺口件进行了一系列非比例载荷低周疲劳试验,采用直流电位差法测量裂纹萌生寿命,比较了非比例路径对疲劳裂纹萌生寿命的影响。结果表明:缺口件裂纹萌生寿命占总寿命的比例与非比例路径直接相关;随着非比例度增加,裂纹萌生寿命所占比例增加。采用Neuber律和Peterson模型进行缺口局部应力应变损伤的计算,结合Smith-WatsonTopper(SWT)模型进行疲劳寿命预测。采用Neuber律并结合SWT模型预测的结果与实际结果相比普遍偏低,采用Peterson模型预测的结果与实际结果相比偏高,与本文结果相比预测结果较高。基于应变路径非比例度的概念,针对Peterson模型进行修正,提出了一种新的疲劳缺口系数计算方法,结合SWT模型进行了疲劳寿命预测。结果表明,该方法改善了非比例路径下的疲劳寿命预测结果,大部分预测结果位于2倍分散带内。 相似文献
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为了深入理解纳米Al-Ni合金低温下的电子输运过程,使用自主研发的电磁感应加热-自悬浮定向流法制备出Al,Ni和Al-Ni纳米合金粉末,并采用真空热压设备将纳米粉末压制成纳米晶块体,利用自主搭建的低温热电测量系统研究了Al-Ni纳米合金的电阻率随温度(8~300 K)的变化规律。研究结果表明:Al-Ni纳米合金由于形成有序晶相而仍然与Al,Ni纳米晶一样,电阻率随温度的降低而降低。纳米Ni3Al-Ni和NiAl-Ni在居里温度点附近出现了电阻率随温度变化的极大值点,因为单质Ni的影响,Ni3Al-Ni的居里温度比粗晶Ni3Al提高了20 K。由于磁子-电子散射作用和声子-电子散射作用,纳米Ni3Al-Ni,NiAl-Ni和Ni的电阻率在低温下(8~40 K)与温度呈T2和T4关系。 相似文献
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随着高 Ga 组分Ⅲ族氮化物相关研究的日趋深入和生长技术的日益成熟,人们逐渐将研究重心转向具有更宽带隙的高 Al 组分Ⅲ族氮化物.该材料常温下带隙宽至6.2 eV,可覆盖短至210 nm 的深紫外波长范围,具有耐高温、抗辐射、波长易调控等独特优点,因而是制备紫外发光器件的理想材料.目前,高 Al 组分Ⅲ族氮化物材料质量不高,所制备的深紫外 LED 发光器件仍存在内量子效率、载流子注入效率和沿 c 轴方向正面出光效率较低的难题,因而制约了高效紫外发光器件的制备.本文着重介绍了近年来在高 Al 组分Ⅲ族氮化物生长动力学方面的研究进展,总结和梳理了量子结构设计、内电场调控以及晶体场调控等方面的相关研究,以期实现高质量深紫外 LED 的制备. 相似文献
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仿真饰品样品用模拟人体环境的酸性汗液萃取60min后,采用电感耦合等离子体原子发射光谱法测定其中砷、钡、镉、钴、铬、汞、镍、铅、锑和硒的迁移量。试验选择波长为193.759,233.527,214.438,228.616,267.716,194.227,232.003,220.353,206.833,196.090nm的10条谱线依次作为测定砷、钡、镉、钴、铬、汞、镍、铅、锑和硒的分析线。方法的检出限(3sb/k)在0.002~0.06mg.L-1之间,测定下限(15sb/k)在0.01~0.3mg.L-1之间。方法用于仿真饰品的分析,回收率在88.0%~100%之间,测定值的相对标准偏差(n=7)在3.1%~9.8%之间。 相似文献