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根据8 mm回旋速调管放大器对双阳极磁控注入电子枪的要求,分析了电极形状、阳极电压、磁场、注电流对电子注横纵速度比和速度零散的影响,并进行了粒子模拟。分析表明:这些因素可归根为电场和磁场的作用,阴极附近高的电场有助于提高横纵速度比和降低速度零散;而高的磁场及低的磁压缩比将降低横纵速度比,但对速度零散影响无明显规律。在此基础上通过优化电极形状、磁场分布、电流、第一阳极电压和第二阳极电压,模拟并试制出工作电压65 kV、电流12 A、磁场1.4 T的双阳极电子枪,得到的横纵速度比值为1.4,横向速度零散为4.5%, 为8 mm回旋速调管提供了稳定高质量的电子注。 相似文献
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脉冲激光诱导光纤损伤的测试方法 总被引:3,自引:0,他引:3
针对传能光纤的高峰值功率激光损伤过程,研究了光纤损伤测试方法。实验装置搭建中增加了定位孔,有利于激光注入光纤对准;分别采用刀口法和CCD法对入射光束不同截面处光斑大小进行了测量,两种方法的测量结果基本一致。参考GJB1487-92激光光学元件测试方法和ISO11245光学表面的激光诱导损伤阈值测试方法,采用N-ON-1损伤测试和有效光斑面积计算方法对芯径为400 μm的石英包层阶跃折射率石英光纤进行了损伤阈值测试。实验发现:光纤损伤部位全部为入射端面,利用200倍显微镜观察光纤端面,出现明显永久性损伤点。最后采用统计学原理和线性拟合等方法得出测试光纤的端面零概率损伤阈值为3.85 GW/cm2。 相似文献
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金凯 M.Dohlus H.Hartwig A.Jostingmeier N.Holtkamp V.Kaljuzhny S.Yarigin A.Naboka A.Vasyuchenko 《中国物理 C》1999,23(9):931-935
加速管中的高次模(HOM)能导至累积束流崩溃,因此这些模式必须被抑制.在S波段直线对撞机中(SBLC),采用了在束流孔膜片上复盖适当的损耗材料的方式.HOM的Q值被减小了5倍,而基模的Q值几乎保持不变.3种材料被考虑,即:stainlesssteel,kanthal和galvedc为了对具有这种涂层的加速腔进行高功率测试,一个两腔的谐振器结构被设计.本文描述了高功率测试的原理,过程以及初步的结果. 相似文献
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输入拥塞分析为投入产出分析提供了另一种视角,即通过减少冗余输入以增加输出。当前,对生产单位进行输入拥塞分析的主要方法是基于数据包络分析(DEA)模型的BCSW模型。BCSW模型的基本思想是将被评价单位与DEA前沿面上的有效率单位进行比较从而得出输入拥塞的值。但该方法忽略了DEA前沿面的数据敏感性问题,即前沿面上单位发生极小变动会导致评价结果的巨大改变,导致分析结果缺乏稳健性。本文提出了一种启发式方法,从改进DEA前沿面的角度出发,通过在误差范围内找到最佳前沿面,使输入拥塞分析结果更加合理。方法的提出从DEA前沿面的数据敏感性问题的原因出发,利用最小二乘法基本思想确定DEA最佳前沿面所需具备的性质。之后在该性质下,利用超效率DEA模型的思想和方法,解决DEA前沿面存在的问题,确定了该启发式方法。最后,本文在该方法所确定的最佳前沿面的基础上,利用BCSW模型进行输入拥塞分析,在实例数据上取得了相对于原始BCSW模型更合理也更具解释性的结果,证实了利用输入拥塞分析时,DEA前沿面确实存在的问题以及解决该问题对输入拥塞分析方法的改进作用。 相似文献
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高功率粒子束及其应用 总被引:8,自引:3,他引:5
本文评价了高功率粒子束的工作原理及其应用:文中以闪光-Ⅰ强流脉冲电子束加速器为例,论述了机器的基本技术和它的工作特性 高功率粒子束目前已经应用到许多重要研究领域。包括:核辐射效应模拟源、闪光X射线照相、高功率激光器研究、惯性约束聚变、高功率微波的产生、离子集体加速等方面。 报告中简述了我国在高功率粒子束加速器建造和开拓应用方面取得的进展。 最后,也指出了高功率粒子束技术今后发展有关的研究课题。 相似文献
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提出了一种基于锥形渐变耦合结构的可扩展多模弯曲波导。该器件利用模式等效折射率匹配原理,通过对称的锥形渐变耦合结构,实现高阶模式与基模的相互转化,完成多模弯曲传输功能。同时,结合时域有限差分方法和粒子群优化算法,优化锥形渐变耦合结构区域,提升器件性能。实验测试结果表明,在1520~1600 nm的波长范围内,当输入模式分别为TE_0、TE_1、TE_2、TE_(3)和TE_(4)时,该器件的插入损耗分别小于1.71 dB、3.04 dB、2.90 dB、3.16 dB和4.00 dB,对应的串扰分别小于-10.60 dB、-11.35 dB、-10.92 dB、-10.35 dB和-11.45 dB。 相似文献
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BEPCⅡ(北京正负电子对撞机重大改进工程)要求其直线注入器提供更高的能量和流强,为此必须改进正电子产生靶前后的加速管,以提高加速梯度,并消除原有加速管因长期运行后性能有所下降的隐患.本文叙述了新加速管的高功率测试,包括测试装置的设计、建立,微波功率源(速调管)的调试和加速管高功率测试结果及其分析. 相似文献