全文获取类型
收费全文 | 18730篇 |
免费 | 5922篇 |
国内免费 | 9274篇 |
专业分类
化学 | 12809篇 |
晶体学 | 772篇 |
力学 | 3644篇 |
综合类 | 706篇 |
数学 | 2836篇 |
物理学 | 13159篇 |
出版年
2024年 | 181篇 |
2023年 | 598篇 |
2022年 | 627篇 |
2021年 | 680篇 |
2020年 | 536篇 |
2019年 | 659篇 |
2018年 | 536篇 |
2017年 | 721篇 |
2016年 | 766篇 |
2015年 | 824篇 |
2014年 | 1740篇 |
2013年 | 1401篇 |
2012年 | 1405篇 |
2011年 | 1528篇 |
2010年 | 1413篇 |
2009年 | 1550篇 |
2008年 | 1740篇 |
2007年 | 1339篇 |
2006年 | 1342篇 |
2005年 | 1574篇 |
2004年 | 1312篇 |
2003年 | 1565篇 |
2002年 | 1273篇 |
2001年 | 1238篇 |
2000年 | 982篇 |
1999年 | 705篇 |
1998年 | 660篇 |
1997年 | 590篇 |
1996年 | 622篇 |
1995年 | 610篇 |
1994年 | 590篇 |
1993年 | 456篇 |
1992年 | 461篇 |
1991年 | 444篇 |
1990年 | 487篇 |
1989年 | 393篇 |
1988年 | 113篇 |
1987年 | 97篇 |
1986年 | 72篇 |
1985年 | 37篇 |
1984年 | 22篇 |
1983年 | 16篇 |
1982年 | 15篇 |
1981年 | 2篇 |
1979年 | 3篇 |
1959年 | 1篇 |
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 15 毫秒
51.
52.
英国《新科学家》杂志日前刊载文章称,新一代X射线激光器能用于研究蛋白质和其他生物分子的构造和行为。新一代X射线激光器的能量将是现有设备的100亿倍,能使科学家观察到最微小最精妙的分子构造。利用这种技术可以破解复杂的蛋白质和完整的病毒结构,甚至可能获得DNA的三维图像。X射线激光器被称作自由电子激光器。与传统激光器不同,自由电子激光器并不是通过光照或电流刺激某种物质发射光子,而是使用粒子加速器让极小的电子云穿过磁铁组,这些磁铁把电子推来推去,直到电子释放出光脉冲。传统激光器的激光波长是由发射光子的物质本… 相似文献
53.
关于康托集类光栅的实验探究 总被引:1,自引:1,他引:0
设计制作了康托集分形衍射光栅,通过对康托集分形光栅3个阶段的夫琅禾费衍射现象的观察,根据惠更斯-菲涅耳原理,得到了一维康托集分形光栅的夫琅禾费衍射光强分布特性. 相似文献
54.
基于密度泛函理论(DFT),用完全势能线性缀加平面波方法(FPLAPW)计算模拟了MnO2的同质多相变体(金红石型结构、CaCl2型结构、黄铁矿型结构),通过计算,预测了β-MnO2在5 GPa时从金红石型结构转变为CaCl2型结构,在20 GPa时进一步转变为黄铁矿型结构。另外,还总结和比较了几种金红石型结构二氧化物的压致相变特点,得出第Ⅳ主族元素的金红石型结构氧化物有很好的规律性,发生的相变序列基本一致;并随着金属阳离子半径的增大,发生相变的压力值也相应地递减,各氧化物的体积模量值相应地减小。 相似文献
55.
56.
用磁控溅射方法制各纯Fe薄膜,并硫化合成FeS2.采用同步辐射X射线近边吸收谱与X射线光电子能谱研究了薄膜的电子结构.结果表明,合成的FeS2薄膜,在费米能级附近,有较强的Fe 3d态密度存在,同时,在价带谱中2-10eV处有强度较大的S 3p态密度存在;Fe的3d轨道在八面体配位场作用下分别为t2g和eg轨道,实验中由Fe的吸收谱计算得到两分裂能级之差为2.1eV;实验测得FeS2价带结构中导带宽度约为2.4eV,导带上方仍存在第二能隙,其宽度约为2.8eV. 相似文献
57.
58.
转移矩阵法在负折射率介质材料平板波导中的应用研究 总被引:3,自引:3,他引:0
利用严格电磁理论,推导出了适用于负折射率介质材料光波导的转移矩阵,分析讨论了转移矩阵的性质和应用.利用转移矩阵方法,推导出导波层为负折射率介质材料、覆盖层和衬底为右手材料的三层对称介质光波导的本征色散方程.用图解法研究了负折射率介质波导中TE波的异常色散特性.在负折射材料介质波导中没有零阶模,最低阶为1阶模,并且有截止频率,只有波导参量满足一定条件的时候才会存在,导模的横向波数可以为实数和纯虚数,而正折射率介质波导导模的横向波数只能为实数. 相似文献
59.
60.
为了准确计算出镀膜过程中每层膜的折射率,介绍了实时监控过程中确定膜层折射率的2种方法:一种是由实测的透射比光谱直接反算出膜层的折射率;另一种是用最小二乘法的优化算法实时拟合折射率。试验结果表明:在线反算适合单点监控,所得折射率误差小于2%。然而在实际镀膜过程中,由于宽带内膜层参数误差较大,一般大于25%。为此,采用最小二乘法拟合,即在整个宽光谱范围内采集每个波长点的信息,所得结果误差很小,一般都在2%~5%之间,有时可达到10%,在很大程度上提高了实际镀膜时膜厚监控的精度。 相似文献