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11.
在通常情况下,为了避免强光源对人员的伤害,对强光源的能量测量,往往必须实现人员撤离,对能量测量装置需要在测量前设定好相关参数,一旦设定后,只有等待这次出光后到下次出光前,再进行修改,且所得到的数据必须手工抄录,不利于存档。有的能量测量装置即便带有相关的软件,但多是单机版本且基本上以实现数据的显示为主,无法实现对数据的灵活采样、及时保存,对满足测量的需求相差甚远。即便是国外产的能量测量设备也存在一些不适合本地要求的功能缺陷。  相似文献   
12.
The study of damage evolution in silicon carbide bombarded with energetic helium ions is important for the use of this material in future fusion reactors. Heavier inert gas atoms like Ne and Xe have similar behavior of diffusion and clustering with helium, and the comparison of damage accumulation behavior between energetic helium and heavier inert gas ions can reveal important aspects of underlying mechanisms. As an extension of our  相似文献   
13.
By using the multichannel quantum defect theory(MQDT),we have evaluated the energy levels and lifetimes of 2sns ^3 S1,2snd ^3D(n=3-25)of BeI and 1 sns ^3s1,1snd ^3D(n=3-25)of BeⅢ,These energies and lifetimes that we have calculated not only agree with the recent measurements and theoretical calculation of Ref.4 and Ref.3, but also predict the lifetimes of 66 other highly excited states.  相似文献   
14.
揭示了常规投资项目外部收益率的实质 ,明确了常规投资项目外部收益率的缺陷 .研究表明 ,在实际工作中 ,不宜用外部收益率替代内部收益率进行常规投资项目的经济性分析评价  相似文献   
15.
对加载到塑性阶段的矩形截面柱,本文研究了几何缺陷对屈曲的影响,在分析中考虑了弹性卸载的影响,求出了荷载、缺陷大小及分叉模态幅值之间的精确渐近关系式,结果表明在塑性阶段最大承载力对小缺陷非常敏感,但当缺陷大小达到某一值后,可能不存在最大载荷。  相似文献   
16.
吴师岗  邵建达  范正修 《物理学报》2006,55(4):1987-1990
探讨了HfO2薄膜中负离子元素杂质破坏模型,并得出薄膜中的杂质主要来源于 镀膜材料. 用电子束蒸发方法沉积两种不同Cl元素含量的HfO2薄膜,测定薄膜 弱吸收和损伤阈值来验证负离子元素破坏模型. 结果表明,随着Cl元素含量的增加薄膜的弱 吸收增加损伤阈值减小. 这主要是因为负离子元素在蒸发过程中形成挥发性的气源中心而产 生缺陷,缺陷在激光辐照过程中又形成吸收中心. 因此负离子元素的存在将加速薄膜的破坏 . 关键词: 负离子元素杂质 缺陷 吸收  相似文献   
17.
18.
面缺陷是纳米带中非常普遍和非常重要的一类缺陷.在有些情况下,面缺陷对于高表面能指数面的出现起着决定性的作用, 同时,它们可以诱导纳米带沿着特殊的方向生长.面缺陷可以是孪晶或双晶,层错和由杂质原子聚集在特定原子面所形成的间隙原子层.在本文中,利用透射电子显微术,我们将介绍氧化锌纳米带中被发现的几种面缺陷.我们确认了两种孪晶/双晶结构,它们的孪晶面分别是(0113)和(2112)面.基面层错有I1 和I2两种.在大尺寸的纳米带中,I1基面层错可以折叠到(2110)面形成棱面层错.当少量的In离子掺入氧化锌纳米带后,我们发现伴随着杂质In在基面的聚集,形成了两种倒反畴界.  相似文献   
19.
20.
Yb:GdVO4晶体是一种很好的激光材料,但缺陷会对晶体的激光性能产生严重影响,开展对该晶体的缺陷研究有助于提高晶体质量。采用提拉法生长了面25mm×20mm,掺杂浓度为2%的Yb:GdVO4晶体;分析了晶体的结构及其对晶体解理性的影响;采用化学腐蚀法,以盐酸、氢氟酸为腐蚀剂,对晶体的主要晶面进行了化学腐蚀实验,通过其腐蚀坑形貌对晶体中的位错和晶界进行了研究;对晶体进行了高分辨X衍射实验,结果表明晶体中存在镶嵌块结构;开裂及散射颗粒也为晶体中较常见缺陷。分析了缺陷的成因并提出了预防措施。  相似文献   
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