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951.
本文报道一个新的三核钼原子簇化合物在室温和77K固态和液态的EPR谱,这些谱均呈现出a,b两套谱线的叠加,分析谱线的强度比,线宽和谱参数,认为g值较大的a谱归属于三核钼原子簇化合物,而b谱归属于单核钼杂质。从由X射线晶体结构方法确定的空间结构出发,三核钼原子簇化合物可能有两种分子形式:Mo3(μ3-S)(μ2-S)3Cl[S2P(OEt)2]4 1Mo3(μ3-S)(μ2-S)(μ2-Cl)2Cl[S2P(OEt)2]4 2分别用简单量子化学理论和EHMO法计算出未配对电子所处的分子轨道,求出g1和g1,并与EPR实验值相比较,认为该化合物的分子式应为2,簇骼{Mo3}属七电子体系,在77K温度下,其未配对电子主要局域在三个钼原子所组成的近似等腰三角形簇骼的顶点钼原子周围。 相似文献
952.
953.
选用CAPCELL PAK C18色谱柱为分离柱,柱温为30℃,进样体积为10.0μL,并用不同比例的(A)甲醇、(B)四氢呋喃和(C)0.008 2mol·L^-1高氯酸溶液的混合液作为流动相,按程序梯度洗脱模式对市售防晒产品中所用的15种防晒剂的标准品进行色谱分离,并在波长311nm处进行紫外检测。实样分析时,称取样品0.25g,用甲醇、四氢呋喃、水和高氯酸(体积比为250∶450∶300∶0.2)的混合液(以下简称混合溶剂)15 mL超声提取30 min,用混合溶剂定容至25.0mL,离心10min,分取上清液1.0mL,加入混合溶剂定容至10.0mL,经0.45μm滤膜过滤,取滤液按仪器工作条件进行高效液相色谱分析。结果表明:所测定的15种防晒剂在一定的质量浓度范围内与其对应的峰面积呈线性关系。选定其中的二苯酮-3为参照物,并根据其余14种化合物的质量浓度和峰面积计算了各化合物的相对校正因子和相对保留时间等参数,确定了用一测多评法(QAMS)测定防晒产品中15种防晒剂的条件。还对色谱柱的型号、色谱仪器的型号以及柱温、进样量等对相对校正因子和保留时间可能产生影响的因素进行了系统试验。证明了在选定的色谱柱型号的前提下,用QAMS方法可实现防晒产品中15种防晒剂含量的同时测定。应用QAMS方法测定了6个批次防晒产品中的防晒剂含量,所得结果与用标准曲线法计算的结果基本一致,表明QAMS方法在降低检测成本和节省检测时间方面效果显著。 相似文献
954.
为了研究微米级填料表面纳米化修饰对环氧复合材料和特高压盆式绝缘子性能的影响,采用硅烷法表面接枝技术,制备出不同粒径增加值的表面纳米化修饰的微-纳复合氧化铝填料。通过掺混不同比例的微-纳复合氧化铝填料,制备了环氧复合材料和特高压盆式绝缘子,测定其机械性能、电气性能和热性能,并与未掺混的环氧复合材料和特高压盆式绝缘子进行对比。结果表明:掺杂硅烷法表面接枝的氧化铝填料后,环氧复合材料和盆式绝缘子的热性能和电气性能基本不变,但机械性能提升明显。添加表面接枝氧化铝填料的环氧复合材料拉伸强度随粒径增加值增大而减小,随掺混比例先增大后减小,掺混比例为15%时,拉伸强度最大,达到90.88MPa,提升了16.5%,特高压盆式绝缘子压力试验破坏值提升了15%。氧化铝表面接枝对于提高环氧复合材料机械性能,提升特高压盆式绝缘子可靠性具有实际意义。 相似文献
955.
956.
预处理条件对Ni-Ce-P非晶态合金液相加氢活性的影响 总被引:10,自引:0,他引:10
采用真空骤冷技术制备了Ni82Ce0.31P17.7和Ni82P18非晶态合金。通过高压氢气中热处理, 使其粉化。DSC研究结果表明加入少量Ce使Ni-P非晶态合金晶化温度提高160℃。用高压反应釜考察了氧化温度和氢还原温度对Ni-De-P非晶态合金本乙烯液相加氢活性的影响, 并对比了Ni-P和Ni-Ce-P的加氢活性, 活性测试的结果表明: 氧化、还原处理过程使Ni-Ce-P加氢活性显著增加, 最佳的预处理条件是240℃氧化1h, 300℃氢气还原2h; Ni-Ce-P加氢活性是Ni-P加氢活性的3-4倍, 用AES和XPS研究了氧化、还原过程中,Ni-Ce-P表面性质的变化。 相似文献
957.
碱性体系在线氢化物发生—原子荧光光谱法测定痕量铋 总被引:4,自引:0,他引:4
提出了一种碱性体系在线氢化物发生-原子荧光光谱法测定痕量铋的分析方法。设计了在线氢化物发生系统流路及操作程序,研究了碱性体系氢化物发生的各项最佳条件。方法操作简便快速,能有效地消除过渡元素的严重化学干扰。应用于黄铜标样中痕量铋的直接测定,获得满意结果。 相似文献
958.
959.
用椭圆法(elipsometry)对3%酒石酸溶液中(pH=5.5)铝阳极氧化膜的成长过程进行了现场(insitu)研究。控制不同阳极极化电压测量得出的椭圆仪数据(Δ和Ψ),经曲线拟合最优化分析,结果表明:Al电极表面生成的Al2O3膜是一种较均匀、致密的单层膜,其厚度与阳极氧化电压呈线性增长关系,斜率约为1.35nm/V 相似文献
960.