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961.
本文在较宽的基体原子序数变化范围内研究了非相干散射随基体吸收系数的变化规律,发现存在一种幂函数关系,而传统散射内标法所假定的反比关系仅在较窄的轻元素范围内存在.实验证实了这种理论规律的存在.提出了用康普顿散射幂函数法校正基体吸收效应的新方法.列举了幂函数法在地质样品中锶的测定实例,证明该法在宽的基体组成范围内比传统的散射内标法适应性强.  相似文献   
962.
本文在宽的基体变化范围内对波长为0.081 nm的连续散射X-射线进行了研究,表明质量衰减系数与连续散射强度之间不再遵守传统散射内标法所假定的反比例关系,而是呈一种幂函数关系.理论证明和实验结果一致.提出了用0.081 nm处的散射强度的函数校正基体效应的方法,并用于地质样品中微量锶的测定,结果显示,在较大的基体变动范围内,本法与传统散射内标法相比准确度提高近4倍,克服了传统方法适应基体变化范围小的缺点.  相似文献   
963.
灰阶掩模实现光学邻近校正及计算模拟研究   总被引:6,自引:2,他引:4  
从光学邻近效应产生机理出发,提出用带灰阶衬线的灰阶掩模实现光学邻近效应精细校正的新方法,并指出掩模图形振幅信息的优化,即合理分布掩模图形的空间频谱,可以改善空间像的光强分布并获得高质量的光刻图样。计算表明,校正后的成像图样与理想像的偏差小于0.9%。  相似文献   
964.
具有像散的克尔透镜锁模腔的研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
从非线性薛定谔方程出发,经严格计算求得了在具有像散情况下,偏振垂直于传播方向的光束在克尔介质中传输的一般特性,所用的计算方法可应用于高斯光束及克尔透镜锁模腔的研究,并能对高功率情形进行计算。研究表明,在有其他锁模启动机制下,不一定要用[dω/dp]p=0<0作为克尔透镜锁模的必要条件。对于光脉冲的压缩来说,椭圆形光阑将优于圆形光阑。  相似文献   
965.
像散椭球高斯光束的理论分析与实验模拟   总被引:1,自引:0,他引:1  
从理论上讨论了具有简单像散特必的椭 图 束的处理方法,在实验中利用两个正交的柱透镜模拟球面双轴透镜对半导体激光器的输出光束进行变换,得较为理想的结果,即把椭圆高斯光束自理为近似圆高斯光束。  相似文献   
966.
Mertz法傅里叶光谱计算过程的改进   总被引:2,自引:0,他引:2  
邢廷  王模昌  龚惠兴 《光学学报》1999,19(3):55-359
叙述了常用的Mertz法的基本原理进一步讨论了其中的计算效率问题。通过利用实序列离散傅里叶变换的性质与相位校正的具体的处理内容相结合,优化了Mertz法的计算处理,提高了计算效率。  相似文献   
967.
无环醇原子电距矢量及核磁共振碳谱化学位移模拟   总被引:18,自引:10,他引:8  
提出以原子电性距离矢量(VAED)描述无环醇化合物中不同等价碳原子的化学环境,结合γ效应校正与碳原子类型,建立核磁共振碳谱(13C NMR)化学位移五参数线性模型.用于无环醇分子中4类等价碳原子化学位移的估计,复相关系数平方分别为R2=0.9753,0.9944,0.9974,0.9976;均方根误差分别为RMS=0.960,0.968,0.888,0.908ppm.经交互校验,模型稳定可靠,用于4个外部样本化学位移的定量预测,结果良好.  相似文献   
968.
龚范  张林  梁逸曾  俞汝勤 《化学学报》1998,56(5):500-506
将序贯数论优化(SNTO)法用于二维多组分数据的约束背景双线性化(CBBL)和基于最小中位数平方(LMS)法的稳健多元校正的优化过程,以进行多组分同时测定。对于所选数学函数和在CBBL中与变步长广义模拟退火(VSGSA)法进行了比较, SNTO法都取得了令人满意的结果。同时, 对于多元校正, 将基于SNTO的LMS法用于模拟和实际体系, 结果表明LMS法是一种稳健的算法。SNTO法的原理清晰, 且易于实现,是一种较实用的全局优化方法。  相似文献   
969.
张大洋  范文玉  陈丽娅  赵鸣玉 《色谱》1998,16(2):134-136
根据色谱峰面积、校正因子和待测组分含量的关系,应用Levenberg-Marquardt方法对气相色谱分析数据进行最优化计算,可在缺乏待测组分标准样品的条件下测定相应的校正因子。分别测定了甲苯-氯苯、二乙氧基甲烷-乙酸乙酯和二乙氧基甲烷-乙醇-水等3个体系中各组分的相对校正因子。结果表明:化合物校正因子的测定值与相应文献值的相对偏差小于3%。根据实验结果进一步讨论了方法的适用范围以及进行测定所需样品的数目。  相似文献   
970.
根据ITER装置对过渡馈线技术性能的要求及馈线系统工作时所处的特殊低温真空环境,考虑热传导和辐射换热等因素,采用有限元分析法对过渡馈线系统进行了稳态热分析、瞬态热分析、温度-结构耦合分析,获得了过渡馈线的温度分布、系统热漏、温度及变形的时间历程曲线,为过渡馈线的设计和改进提供了依据.  相似文献   
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