Effects of Processing Parameters on Microstructure and Properties of Nanoscale ZrC/ZrB2 Multilayered Coatings

ZrC/ZrB2 multilayered coatings with bilayer periods of 3.5-40nm are synthesized by rf magnetron sputtering. Analyses of x-ray diffraction, scanning electron microscopy and nanoindentation indicate that multilayered coatings possess much higher hardness and greater fracture resistance than monolithic ZrC and ZrB2 coatings. A maximum hardness （41.TCPa） and a critical fracture load （73.7mN） are observed in the multilayer with A = 32 nm deposited at the substrate bias -40 V. Higher residual stress built in the ZrC layer can be released by periodic insertion of ZrB2 into the ZrC layer. A clear multilayered structure with mixed ZrB2（001）, ZrB2 （002） and ZrC （111） orientations should be responsible for the enhanced mechanical properties.     

Augmented Spinor Space

In this paper, based on the Pauli matrices, a notion of augmented spinor space is introduced, and a uniqueness of such augmented spinor space of rank n is proved. It may be expected that this new notion of spaces can be used in mathematical physics and geometry.     

以Na2S2O4为还原剂光度法测定废水中硝基苯

对废水中硝基苯的分光光度测定法进行了改进。提出在碱性介质中,以连二亚硫酸钠(Na2S2O4)为还原剂将硝基苯还原为苯胺,经重氮化后与N (1 萘基) 乙二胺盐酸盐偶合生成紫红色化合物,其最大吸收波长为552nm,测定范围为0～2.4mg/L,摩尔吸光系数为3.36×104L·mol-1·cm-1。     

论优化问题的公理方法（Ⅲ）

在建立了可交换半群｛Ω，｝上的簇Ｆ及其上的第一类优化算子＊概念之后，得到本文主要结果定理４和定理５。然后证明了首Ｎ阶优化算子，非劣算子以及摹多项式簇上的算子［１，２］都是第一类优化算子，与它们相关的优化集合簇Ｎ－ＴＨ，ＰＡＲＥＴＯ及ＥＳＳＥＮＣＥ都是广义优选半域。让它们赋值于多阶段有向图上，它们都服从于嘉量原理     

用最小电离的质子刻度铅–闪烁光纤夹层电磁量能器

研究利用最小电离的质子和已知能量的电子来刻度铅–闪烁光纤夹层电磁量能器.对最小电离粒子输出响应进行光纤衰减修正后,利用最小电离质子的输出响应对量能器测量单元进行标定,然后对不同入射能量的电子事例进行能量重建,重建能量与入射能量有很好的线性关系.本文还对最小电离的质子与μ子对量能器测量单元的输出响应进行了比较,发现二者在误差范围内是一致的.     

有限局部环Z/2\+kZ上斜对称矩阵标准形和伪辛群的阶

设R=Z/2\+kZ(k>1)是\{2\}[TX-]为非单位的有限局部环. 该文首先确定了R上斜对称矩阵标准形. 设G\+m\-p(R,H)={P∈GL\-m(R)|PHP′=H}是由矩阵H确定的伪辛群,其中H=[JB((][HL(2]0[]I\+\{(v)\}\=-I\+\{(v)\}[]0[HL)][JB))]Δ，Δ=[JB((][HL(2]\{2\}[TX-]\+\{k-1\}[]\{1\}[TX-]\=-\{1\}[TX-][]0[HL)][JB))]. 其次,计算了伪辛群G\+m\-P(R,H)的阶|G\+m\-P(R,H)|.     

两样本队列半数生存期检验:反射和检基统计量

依据反射或检基原理，本文提出用于截尾资料的两样本队列半数生存期（ＣＨＬ）检验．两样本合并ＣＨＬ经指数内插取自Ｋａｐｌａｎ－Ｍｅｉｅｒ或Ｂｅｒｋｓｏｎ－Ｇａｇｅ估计值．连续性校正，经以有效样本容量取代样本容量，扩展自Ｙａｔｅｓ校正．合并标准误来自同源性生存率方差估计值，后者经有效样本容量扩展自二项分布方差．无截尾时，这些统计量还原为经典中位数检验．与反射统计量相比，检基统计量具有更高的功效．附有工作实例描述其临床应用．     

Researches of DC—Problem Under the Model S in which the Numbers of Defective Coins are not Fixed

In this paper,we research general Defective Cion Problem under the model S,i.e,the number d of Defective cions is not fixed. For d=O,1,or 2. we get some good results.