对于切槽端部弹塑性应变分布的实验研究

本文利用光弹切片法,对于切槽端部弹塑性应变分布进行了实验研究,同时弄清了切槽类型、切槽长度、载荷水平、加载历史、材料种类和热处理状态等多种因素对切槽端部弹塑性应变分布的影响,为建立能正确反映裂纹尖端(或切槽端部)应变分布的理论解提供了实验依据。     

平面图最小平衡二部划分的上界

关于平面图的平衡二部子图的研究有一个猜想:任意一n个顶点的平面图G(V,E),必含有一个平衡二部子图G(V_1,V_2)使得e(V_1,V_2)≤n.证明了若n个顶点的哈密尔顿平面图G(V,E)中含有一个近似等边三角形,n≥18,那么G(V,E)必含有一个平衡二部子图G(V_1,V_2)使得e(V_1,V_2)≤n.     

两类图的(d,1)-全标号

主要讨论了W_n与C_m的笛卡尔积和均衡完全r-部图K_r(n)的(d,1)-全标号,并得出了(d,1)-全数λ_d~T(W_n□C_m)和λ_d~T(K_(r(n)))的确切值.     

基于Salagean算子的bi-单叶函数系数估计

讨论和研究了受限于Salagean算子且同时满足:1+1/b((D~(n+1)f(z)/(D~nf(z)))-1)φ(z)和1+1/b((D~(n+1)f~(-1)(ω)/(D~nf~(-1)(ω))-1)Ψ(ω)的bi-单叶解析函数的系数估计问题,这里φ(z)和Ψ(ω)为正实部函数.主要的研究结果直接推广了先前相应工作.     

二部图形式的Erd\H{O}s-S\'{o}s猜想

二部图形式的Erd\H{O}s-S\''{o}s猜想     

二部竞赛图中的AD路与AD回路

本文证明了：若对二部竞赛图Ｔ的每一顶点ｖ，总有ｍｉｎ｛ｄＴ＾＋（ｖ），ｄＴ＾－（ｖ）｝≥ｋ≥３，则Ｔ中存在长度至少为４ｒ的ＡＤ路或ＡＤ回路，除非Ｔ同构于一类例外图之一。作为推论，我们得到：正则二部竞赛图Ｔ含有ＡＤＨ回路，除非Ｔ属于一类例外图。     

完全r部图乘积上的Graham猜想

图G的Pebbling数f(G)是最小的正整数n,使得不论n个Pebble如何放置在G的顶点上,总可以通过一系列的Pebbling移动把1个Pebble移到任意一点上,其中Pebbling移动是从一个顶点处移走两个Pebble而把其中一个移到与其相邻的一个顶点上。Graham猜测对于任意的连通图G和H有f(G×H)≤f(G)f(H)。本文证明对于一个完全r部图和一个具有2-Pebbleing性质的图来说,Graham猜想成立。作为一个推论,当G和H均为完全r部图时,Graham猜想成立。     

2006年国外分析界学术动态

由于分析化学的领域不断扩充与国际合作化的趋势日益加强，人力资源的网络亟待建立。欧洲化学与分子科学协会分析化学部于2006年1月发布的欧洲分析专讯34号中就指出：该组织本身是有关分析的学术团体及其分析化学家的网络，旨在改进和延伸业已存在的接触、交流与合作。鉴于柏林Springer出版公司2002年出版的《欧洲分析化学界人名录》（Who’s who in Analytical chemistry：Europe，由M．Valcarcel，A．Rios Castro合编）已经过时，决定重新修订。编辑体例由按人名字母顺序排列改为按工作单位字母顺序排列，以适应人事变动的需要。登录的内容包括以下4项：姓名（何者在前按习俗）、感兴趣的领域、近5年内在国际著名刊物上发表的研究成果、E—mail地址。     

星和完全等二部图联图的点可区别均匀边染色

研究了星与完全等二部图的联图Sm∨Kn,n的点可区别均匀边染色。     

北京谱仪桶部簇射计数器能量响应特性研究

在北京正负电子对撞机的J/ψ和Ds能区,选择了辐射巴巴事例,并以此来研究北京谱仪的桶部簇射计数器能量响应特性.在消除了由于电子和辐射光子在桶部簇射计数器中沉积能量区域重叠的影响后,正确地得到了桶部簇射计数器在电子和光子动量小于2GeV以下的能量响应,表明在所研究能区,桶部簇射计数器的能量响应线性很好.对桶部簇射计数器微小的非线性进行修正后,重建的π0不变质量谱得到改善.