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981.
982.
笔者认为数学解题教学一般分为三个层次:怎样做、为什么这样做和同一类型怎么做.遗憾的是,无论是教师的教,还是学生的学,往往过于重视“怎样做”,对于“为什么这样做”和“同一类型怎样做”却关注甚少,缺少深层次的分析和反思归纳,不利于分析问题能力和“以题会类”迁移能力的有效培养.笔者以各地中考平面几何最值问题为例,对习题教学的三个层次作一简要分析. 相似文献
983.
平移、对称、旋转是初中几何中的三大变换,通过不同的变换,能把条件相对集中,使图中的各种关系明朗化,以促进思维方法和解题能力的提高.本文笔者以例题的形式说明平移、对称、旋转在几何证明中的应用,供读者参考. 相似文献
984.
985.
如今,每一年的高考下来,全国就会出现近40份数学文理科试卷,综合研究这些试卷,基本上呈现标准化样式,各试题总体上符合考试大纲的要求或在课本教学范围之内,惟独圆锥曲线试题,形式五彩缤纷,标准、观点不一,褒贬有之,百家争鸣. 相似文献
986.
The characteristics of compound particle multiplicity distribution and multiplicity correlations between the compound particle and the grey particle, black particle, shower particle and heavily ionized track particle are investigated in this paper. It is found that the average multiplicities of the grey particle, black particle, shower particle and heavily ionized track particle increase with an increase in the number of compound particles, which can be explained by the impact geometrical model. The compound multiplicity distribution is observed to obey a Koba-Nielson-Olesen (KNO) type of scaling law. 相似文献
987.
We report the simulation results on the thickness uniformity of optical coatings deposited on spherical substrates by optimizing the geometric configuration parameters, such as tilting angle of the substrate holder and position of the evaporation source in a 1 000-mm-diameter planetary rotation stage (PRS). We reveal that good film uniformity on convex spherical surfaces or flat substrates, as well as concave surfaces with weak to moderate curvatures can be obtained through appropriate tilting of the substrate holder. For 300-mm-diameter substrates with clear aperture to radius of curvature (CA/RoC) between 0.3 and 0.7, the achievable film uniformity is above 99%. The source position is optimized to achieve good film uniformity. 相似文献
988.
通过具体实例,借助matlab作图,阐述了代入法求条件极值的几何含义和理论依据,指出了这种解法容易遗漏极值点的原因,并根据代入法的使用限制归纳了三种常见的代入形式,为学习者正确使用代入法提供参考. 相似文献
989.
Random thickness error is an important factor which effects the calibration accuracies of deposition rates for extreme ultraviolet (EUV) multilayer coatings fabricated by sputter deposition techniques. A least square fitting method is proposed to determine deposition rates and extract random thickness errors accurately. The validity of this method is shown by evaluating two deposition systems with control abilities of -0.1 nm and better than 0.01 nm respectively. 相似文献
990.