全文获取类型
收费全文 | 153篇 |
免费 | 53篇 |
国内免费 | 51篇 |
专业分类
化学 | 127篇 |
晶体学 | 4篇 |
力学 | 4篇 |
综合类 | 7篇 |
数学 | 16篇 |
物理学 | 99篇 |
出版年
2024年 | 1篇 |
2023年 | 3篇 |
2022年 | 13篇 |
2021年 | 3篇 |
2020年 | 3篇 |
2019年 | 9篇 |
2018年 | 10篇 |
2017年 | 7篇 |
2016年 | 7篇 |
2015年 | 7篇 |
2014年 | 17篇 |
2013年 | 16篇 |
2012年 | 10篇 |
2011年 | 3篇 |
2010年 | 11篇 |
2009年 | 17篇 |
2008年 | 9篇 |
2007年 | 22篇 |
2006年 | 10篇 |
2005年 | 11篇 |
2004年 | 11篇 |
2003年 | 9篇 |
2002年 | 4篇 |
2001年 | 3篇 |
2000年 | 4篇 |
1999年 | 2篇 |
1998年 | 1篇 |
1997年 | 1篇 |
1996年 | 2篇 |
1995年 | 8篇 |
1994年 | 8篇 |
1993年 | 2篇 |
1992年 | 6篇 |
1991年 | 3篇 |
1989年 | 3篇 |
1986年 | 1篇 |
排序方式: 共有257条查询结果,搜索用时 218 毫秒
181.
182.
用Monte Carlo法计算机模拟研究DyF3-LiF系熔体,得到了径向分布函数和局部结构等信息。研究表明,F^-紧密聚集在Dy^3+周围,而与Li^+之间却存在一定的缝隙。该熔体中主要存在着二种离子类型:以DyF^3-nn型络离子(以DyF^3-6的八面体络离子为主)和“游离状”的Li^+离子。同时,由于F^-的聚集,一些DyF^3-nn型络离子通过“氟桥”组成DymF^3m-nm型更加复杂的 相似文献
183.
电计算电荷分布讨论了元素的氧化态,指出YBCO中不存在Cu^3^+,计算得到B位的Ba,Sr等元素有负电荷,直接解释了Ba3d,Ba4d束缚能XPS测定的“反常”结果。同时指出B位元素与其配位氧原子形成电子库,其容量由B位原子上负电荷大小标志,它与O2p空穴相关,还讨论了Y/BCO中一些化学键的性质,它们可能与高温超电性相关联。 相似文献
184.
185.
186.
取样0.1000 g溶于硝酸中,用稀盐酸沉淀氯化银,溶液定容为10 mL,在上层澄清液中用超声雾化电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-AES)测定清液中铝、钙、铬、铁、镁、钼、镍、钛、钡、铋、钴、铜、锂、锰、铅、锡、钒、钇和锌19种微量元素。对分析条件(包括分析谱线的选择,载气流量、试样溶液的硝酸浓度及铟、镉的基体效应等),取样100 mg时,测定范围为20~640μg.g-1。方法的回收率在94%~104%之间,相对标准偏差在2.6%~6.4%之间。 相似文献
187.
188.
电感耦合等离子体原子发射光谱法测定铀-钼合金中15种微量杂质元素 总被引:3,自引:1,他引:3
应用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定了铀-钼合金中15种微量杂质元素。为消除作为基体存在的放射性铀的严重干扰,将试样(0.250 0 g)经硝酸加盐酸溶解后所得溶液(在2 mL体积中)通过用以聚氟乙烯为担体的磷酸三丁酯填充并预先经5 mol.L-1硝酸平衡的色谱柱(高100 mm,内径6 mm),即进行反相分配色谱柱上萃取分离,使铀离子留在柱上,而钼(Ⅵ)及15种元素的离子则在淋洗中洗脱而存在于淋洗液中。用所收集的淋洗液进行ICP-AES测定。对测定的分析条件及仪器的工作参数作了试验和优化,还进行了回收率及精密度试验,根据结果算得回收率及相对标准偏差(n=6)依次在93.8%~107.2%及2.9%~6.6%之间。 相似文献
189.
平板夹心型支撑液膜萃取体系中La^3+的迁移行为 总被引:4,自引:1,他引:4
在含HEH(EHP)的平板夹心型支撑液膜萃取La^3+的体系中,研究了体系传质过程中的渗透系数p及其影响因素。实验证明夹心型与单型支撑液膜的传质理论模型以及料液酸度和反萃液酸度对传质渗透系数的影响基本一致。当体系料液的pH在3.5 ̄4.2之间时,体系的渗透系数p趋于稳定;p随反萃液酸度的增加而增大,当反萃液酸度大于4.0mol/L时,p趋于恒定;比较了用不同材料和厚度的夹心型支撑液膜体系萃取la2 相似文献
190.
以非离子表面活性剂三嵌段共聚物P123为模板剂、正硅酸乙酯(TEOS)为硅源、钨酸钠(Na2WO4·2H2O)为钨源, 通过水热法一步合成了W掺杂的二氧化硅介孔材料W-SiO2, 并通过XRD、HRTEM、EDX、FT-IR、N2吸附-脱附等表征手段, 考察了随着W含量增加, W-SiO2介孔材料结构的变化规律以及钨物种在材料中的存在状态. 结果表明, 当WO3含量w(WO3)约为10%时, W-SiO2中的钨物种是高度分散进入介孔骨架,形成W-O-Si 键; 当w(WO3)=20%时, 样品中开始有未掺入到SiO2骨架中WO3的结晶出现; 当w(WO3)约60%时, W-SiO2 样品能保持很好的介孔孔道结构, 更高含量WO3掺入将破坏二氧化硅介孔结构. 相似文献