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在某些给定物理条件下,GL方程的解可能多于一个.这一结果也适用于电流通过超导微桥的情形.因此,讨论解的稳定性是必要的.本文将给出微桥情形下解的稳定性判据,并讨论它的实际用法. 相似文献
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聚焦层析法(focusing chromatography)是一种基于新的层析机理的快速纸上电层析法。其特点是在层析过程中,能使分离的物质聚焦(浓集)成线状谱(linear spectrum)层析带。近几年来,在放射性元素和核裂解产物等分离和鉴定上,已取得重要的应用。 1957年Schumacher首先利用这种技术分离了无机金属离子和放射性物质,并研究了它的基本理论。其后,品川睦明等更进一步阐明了层析机理及各种影响因素。从而使这一新技术在理论上和实践上都奠定了基础。在生化分析方面,Kolin等也发展了一种快速电层析法,并能获得聚焦层析的结果。但是其原理与本文所述者有所不同,须加以区别。聚焦层析法如与一般纸上电层析法相比较,具有 相似文献
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初中物理课本下册(1956年4月版本)中对电压概念的叙述,和以前几版一样,在实践中仍感到难于被学生所接受。我们认为教材似有下列几个缺点。 1.电压这个概念的叙述方式和以前各概念的叙述方式不协调,以致有的学生感到困难。课本中在这以前对各个物理量一般的表达方式如: 相似文献
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本文从能量出发,利用文献[3]计算的磁场值,求得一个有限宽度、有限厚度超导微带条电感的解析公式.结果表明,与数值计算值相差不超过1.6%. 相似文献
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Study of depth-dependent tetragonal distortion of quaternary AIInGaN epilayer by Rutherford backscattering/channeling 下载免费PDF全文
<正>A 240-nm thick Al0.4In0.02Ga0.58N layer is grown by metal organic chemical vapour deposition,with an over 1-μm thick GaN layer used as a buffer layer on a substrate of sapphire(0001).Rutherford backscattering and channeling are used to characterize the microstructure of AlInGaN.The results show a good crystalline quality of AlInGaN(xmin= 1.5%) with GaN buffer layer.The channeling angular scan around an off-normal(1213) axis in the {1010} plane of the AlInGaN layer is used to determine tetragonal distortion eT,which is caused by the elastic strain in the AlInGaN.The resulting AlInGaN is subjected to an elastic strain at interfacial layer,and the strain decreases gradually towards the near-surface layer.It is expected that an epitaxial AlInGaN thin film with a thickness of 850 nm will be fully relaxed (eT=0). 相似文献
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In this paper, we study weighted composition operators on the Hilbert space of Dirichlet series with square summable coefficients. The Hermitianness, Fredholmness and invertibility of such operators are characterized, and the spectra of compact and invertible weighted composition operators are also described. 相似文献