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该书作者是C.C.Lin(林家翘)和L.A.Segel,1974年出版。中译本已由赵国英等译出,即将出版。这是一本值得向研究工程师一类人员(研究自然科学的确定性问题)推荐的应用数学读本。其特点有: ①一般的数学或应用数学教科书大多是以系统性知识教学为目的,然而具备了这些数学知识的大学毕业生或研究生往往并不知道如何有效地用这些知识研究实际问题。本书正是为此而写的,采用的是针对研究对象(Case study)的启发式思考(heurlstic reasoning)的写法。因此对已有一定数学知识,而又缺乏独立研究工作能力的人,本书会起到较大的启发作用。 相似文献
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根据AFM(Atomic-Force Microscope 原子力显微镜)实验得到的典型压入曲线给出了一种标定电压-挠度转化系数的方法.对压入曲线进行常规的数据处理,结果显示在起始段和末段各有5nm左右的名义压入深度.然而,有限元计算结果表明上述名义压入深度并非真正的针尖压入样品的深度.通过悬臂梁响应、光线传播、四象限接收器等几个方面的非线性效应分析,得到了实验中各部分非线性效应对实验结果的影响方式和误差范围,从而发现压入实验中四象限接收器上光斑相对移动引起的非线性效应是造成错误判读压入深度的重要原因.最后,对如何减小测量误差和如何在一定误差范围内得到可靠的实验结果给出了一些建议. 相似文献
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85.
???????????????????????????21??????????????? 总被引:6,自引:1,他引:6
着重对21世纪力学将呈现的新特点,新世纪的到来向力学提出的挑战问题和力学研究基 相似文献
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Recently, it has been observed that a liquid film spreading on a sample surface will significantly distort atomic force microscopy (AFM) measurements. In order to elaborate on the effect, we establish an equation governing the deformation of liquid film under its interaction with the AFM tip and substrate. A key issue is the critical liquid bump height yoc, at which the liquid film jumps to contact the AFM tip. It is found that there are three distinct regimes in the variation of yoc with film thickness H, depending on Hamaker constants of tip, sample and liquid. Noticeably, there is a characteristic thickness H^* physically defining what a thin film is; namely, once the film thickness H is the same order as H^*, the effect of film thickness should be taken into account. The value of H^* is dependent on Hamaker constants and liquid surface tension as well as tip radius. 相似文献
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深入研究了负氢离子输运及能量沉积机理,采用全三维蒙特卡罗碰撞方法处理负氢离子与其他粒子间的碰撞,运用CHIPIC软件平台下的PIC(particle-incell)技术处理粒子的储存和磁场约束作用,在此基础上,对JAEA 10 A离子源中体积产生负氢离子输运和散射情景进行了模拟,并分析和讨论了不同气压和过滤磁场对体积产生负氢离子传输和引出特性的影响.结果显示:气压越大,体积产生负氢离子碰撞损耗越大,体积产生负氢离子达到器壁的数量和被引出的数量都越小;低气压放电环境中,过滤磁场对体积负氢离子的引出影响更强烈,且过滤磁场越大,引出效果越差. 相似文献
89.
微裂纹串级连接及临界破坏 总被引:1,自引:0,他引:1
对一铝合金材料层裂过程的实验研究发现,当损伤累积到一定程度时,受损材料的残余强度突然丧失,表现出临界破坏现象。层裂表面具有分形特征,其分形断面的形成归因于大量微裂纹的串级连接。据此提出了一重正化群弱面模型,并对损伤演化后期的临界破坏现象进行了初步的分析和探讨。 相似文献
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